北京磁阻法測(cè)厚儀 返回列表頁(yè)

磁阻法測(cè)厚儀  非導(dǎo)磁覆蓋層厚測(cè)定儀

型號(hào)：LT/HCC-24

北京磁阻法測(cè)厚儀可快速無(wú)損地測(cè)量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚 度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。由于集成電路和微處理器的應(yīng)用，使本儀器具有操作簡(jiǎn) 單、使用方便、穩(wěn)定性好、測(cè)量精度高的優(yōu)點(diǎn)。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計(jì)功能，可直接顯示測(cè)量的平均值、zui大值、zui小 值、標(biāo)準(zhǔn)偏差及測(cè)量次數(shù)等統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

北京磁阻法測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測(cè)量，符合標(biāo)準(zhǔn) ISO2178和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB4956。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí)，探頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過(guò)對(duì)磁阻的測(cè)量，經(jīng)電腦進(jìn)行分析處理，由液晶顯示器直接 顯示出測(cè)量值

技術(shù)參數(shù)

1）測(cè)量范圍： 0μm～1200μm。

2） 示值誤差： ± （1～3%H+1μm） ， H為被測(cè)涂層厚 度。

3）分 辨 率： 1μm。

4） 小測(cè)量面的直徑： φ10 mm。

5）顯 示： 4位LCD顯示測(cè)量的平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測(cè)量次數(shù)，同時(shí)指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6） 電 源：一節(jié)6F22型9V電池。

7） 外形尺寸： 160mm×80mm×30mm。

8） 質(zhì) 量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對(duì)濕度不大于90%。

可快速無(wú)損地測(cè)量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚 度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。由于集成電路和微處理器的應(yīng)用，使本儀器具有操作簡(jiǎn) 單、使用方便、穩(wěn)定性好、測(cè)量精度高的優(yōu)點(diǎn)。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計(jì)功能，可直接顯示測(cè)量的平均值、zui大值、zui小 值、標(biāo)準(zhǔn)偏差及測(cè)量次數(shù)等統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

采用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測(cè)量，符合標(biāo)準(zhǔn) ISO2178和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB4956。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí)，探頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過(guò)對(duì)磁阻的測(cè)量，經(jīng)電腦進(jìn)行分析處理，由液晶顯示器直接 顯示出測(cè)量值

技術(shù)參數(shù)

1）測(cè)量范圍： 0μm～1200μm。

2） 示值誤差： ± （1～3%H+1μm） ， H為被測(cè)涂層厚 度。

3）分 辨 率： 1μm。

4）zui小測(cè)量面的直徑： φ10 mm。

5）顯 示： 4位LCD顯示測(cè)量的平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測(cè)量次數(shù)，同時(shí)指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6） 電 源：一節(jié)6F22型9V電池。

7） 外形尺寸： 160mm×80mm×30mm。

8） 質(zhì) 量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對(duì)濕度不大于90%。