X射線鍍層測厚儀 返回列表頁

X射線鍍層測厚儀  X熒光光譜儀

型號：GR/Thick 600

X射線鍍層測厚儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測試工作更加輕松完成。

使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測器，以實(shí)在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作更人性化、更方便。

性能特點(diǎn)

長效穩(wěn)定X銅光管

半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷

采用天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE）

內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品

脈沖處理器，數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確

手動開關(guān)樣品腔，操作安全方便

三重安全保護(hù)模式

整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型高貴時尚

FP軟件，無標(biāo)準(zhǔn)樣品時亦可測量

技術(shù)指標(biāo)

型號：THICK600

分析范圍： Ti-U，可分析zui高3層15個元素

分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

分析精度：多次測量穩(wěn)定性可達(dá)1%.

工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

測量時間：40秒（可根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整）

探測器分辨率：（160±5）eV

光管高壓：5-50kV

管流：50μA-1000μA

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：30%-70%

準(zhǔn)直器：配置不同直徑準(zhǔn)直孔，zui小孔徑φ0.2mm

儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm

儀器重量：30kg