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離子遷移普儀 型號:SDL-IMS | 貨號:ZH4103 |
產(chǎn)品簡介: 是一種用來探測空氣中痕量物質(zhì)的方法,被檢測的樣品蒸氣或微粒離化形成離子,然后讓離子在弱電場中產(chǎn)生漂移,并測量出離子通過電場所用的時間,進而根據(jù)離子所用的漂移時間可以計算出離子的遷移率(遷移率的定義是指在單位電場強度作用下離子的漂移速度)由于在的條件下,種物質(zhì)離子的遷移率互不相同,因而也就導致不同的離子通過電場的漂移時間不相同。這樣,我們就可以根據(jù)漂移時間的測量來間接達到對樣品的分離和檢測,IMS檢測和已經(jīng)發(fā)展成熟的飛行時間質(zhì)譜分析有些類似,不過,IMS不像質(zhì)譜分析那樣工作在高真空條件下進行檢測,而是工作在大氣環(huán)境氣壓條件下,這是IMS檢測的一個特點,盡管IMS工作在大氣環(huán)境氣壓下,它的探測靈敏度仍然很高,可以達到(10-8—10-14)g,和質(zhì)譜分析以及其他一些檢測相比,IMS有著諸如儀器簡單、體積小、重量輕、功耗低和分析時間快等許多優(yōu)點,對行業(yè)所關注的化合物的分析起著重要的作用! 參數(shù): 電離源:氚(氫的放射性同位素,beta放射器),活動50 MBq zui低檢出限:1ppb 耗電量:加熱單元zui多20W;帶加熱單元和解吸室zui多48w 電池壽命:自動運行狀態(tài)下大約4-6小時 顯示:數(shù)字式 4×40位 通信:RS232串行接口 運行溫度:-10℃到80℃ 尺寸:由實際需要所定 重量:約8kg(包括電池) |
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