目錄:上海儀電物理光學(xué)儀器有限公司>>粒度儀系列>> WKL-702 顆粒圖像分析儀
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更新時(shí)間:2025-03-06 10:49:01瀏覽次數(shù):14評(píng)價(jià)
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產(chǎn)品特點(diǎn) 將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理,具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。 1、圖像多種處理方法:影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。 2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測(cè)量。 3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。 技術(shù)參數(shù)
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