A-5000-3553雷尼紹測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在【詳細】

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A-5000-7629雷尼紹測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在【詳細】

A-5003-4788英國RENISHAW三坐標測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細】

A-5000-7811英國雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了【詳細】

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M-5000-4162雷尼紹三坐標測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細】

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A-50034780*英國雷尼紹三坐標測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，【詳細】

A-50034779*雷尼紹三坐標測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保【詳細】

A-5003-1370英國雷尼紹紅寶石測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，【詳細】

A-50032291雷尼紹三坐標測量機技術(shù)參數(shù)TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子【詳細】