A-5003-0067雷尼紹RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針

A-5003-0067雷尼紹RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針
主要產(chǎn)品有:實(shí)驗(yàn)室研究用拉曼光譜儀和工業(yè)在線(xiàn)用拉曼光譜儀、激光器和CCD探測(cè)器;坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上的測(cè)量系統(tǒng)，工件安裝基準(zhǔn)設(shè)定;在機(jī)對(duì)刀系統(tǒng)及在機(jī)零件檢驗(yàn);掃描和數(shù)字化系統(tǒng);機(jī)床測(cè)量和校準(zhǔn)用的激光干涉儀和球桿儀系統(tǒng);高精度定位反饋編碼器系統(tǒng)（鋼帶光柵尺）等產(chǎn)品

A-5003-0067雷尼紹RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針
關(guān)于TP200 TP200系統(tǒng)組件包括：
TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）
TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）
PI 200測(cè)頭接口
SCR200測(cè)針交換架
還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。      
特性與優(yōu)點(diǎn)
應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量
零復(fù)位誤差
無(wú)各向同性影響
六向測(cè)量能力
測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm（GF測(cè)針）
快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖
壽命 >1 000萬(wàn)次觸發(fā)
TP200 / TP200B測(cè)頭本體 TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。 
SCR200交換架SCR200可對(duì)zui多六個(gè)TP200測(cè)針模塊進(jìn)行自動(dòng)高速交換。SCR200由獨(dú)立的測(cè)頭接口 —PI200供電，并可確保安全的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件，每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。規(guī)格