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| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學元件 |
BrightLine® BasicTM單波段濾光片組
*的Semrock，這些濾光片組合一個高效的偏振器和一個單光學元件的帶通濾光片!這些濾光片是具有對比度的*的線性偏振器超過1000000 - 1。此外，具有高性能的帶通特性(包括高透射和陡緣)，他們制造了一個的激光源清除濾光片(消除了激光波長的不需要的偏振和光噪聲)，以及通過激光波長范圍和阻擋背景噪聲的檢測濾光片。美國號8879150。
semrock的偏振帶通濾光片是各種實驗室激光應(yīng)用的理想選擇，特別是那些涉及全息干涉系統(tǒng)，以及熒光偏振檢測和成像，二次諧波成像、通信、測距極化分集檢測、激光材料加工、激光強度控制。
這些*的偏振帶通濾光片提供了一個*的線性偏振器和優(yōu)化的帶通濾光片在單一光學元件。對比率＞1000000:1高傳輸（> 95%）在優(yōu)化通帶（為p偏振光）的光學質(zhì)量-低散射，波前畸變和光束偏移硬涂層的可靠性和高的激光損傷閾值（1焦耳/平方厘米）自然提供了大孔徑大小和90º分束器的功能25毫米和25.2×35.6毫米濾光片大小可用
BrightLine® BasicTM單波段濾光片組
標稱激光波長 | AOI的波長范圍= 45°±0.5° | 用于標稱激光波長的AOI范圍 | OD 2平均偏振屏蔽范圍 | 平均OD 6 s-pol阻斷范圍 | 6 p-pol阻斷范圍的平均值 | 型號 |
355 nm | 346 – 361 nm | 38° – 52° | 434 – 1100 nm | 300 – 455 nm | 300 – 339 nm 369 – 434 nm | PBP01-353/15- |
405 nm | 400 – 410 nm | 41° – 51° | 300 – 332 nm 490 – 1100 nm | 320 – 516 nm | 332 – 388 nm 422 – 490 nm | PBP01-405/10- |
532 nm | 518 – 541 nm | 38° – 52° | 300 – 418 nm 664 – 1100 nm | 400 – 695 nm | 418 – 502 nm 557 – 664 nm | PBP01-529/23- |
640 nm | 628.5 – 650 nm | 40.5° – 51° | 300 – 511 nm 795 – 1100 nm | 488 – 840 nm | 511 – 602 nm 675 – 795 nm | PBP01-639/21- |
1064 nm | 1038 – 1081 nm | 39° – 51° | 300 – 851 nm 1307 – 1750 nm | 720 – 1393 nm | 851 – 996 nm 1120 – 1307 nm | PBP01- 1059/43- |
Beamsplitter Mount | Part Number |
Designed for single, 25.2 x 35.6 x 1.0 to 2.0 mm beamsplitters in laboratory bench- set ups. | BSM |
常用規(guī)格
屬性 | Value | Comments |
保證傳輸率 | > 95% | p-polarized light |
比例 | 1,000,000:1 | Ratio of transmission through two identical aligned polarizers to transmission through same pair of crossed polarizers |
Blocking | See table on page 80 | AOI tolerance (See table on page 80) |
Nominal Angle of Incidence | 45° | 10 ns pulse width p-pol (See page 102) |
激光損傷閾值 | 1 J/cm² @ 532 nm |
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基底材料 | Ultra-low autofluorescence fused silica |
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尺寸和公差 | 25.2 mm x 35.6 mm x 2.0 mm +/- 0.1 mm 25.0 mm x 2.0 mm +/- 0.1 mm | Mount options on page 80 for 25.2 x 35.6 mm size 25.0 mm (unmounted) |
通光孔徑 | ≥ 85% | Elliptical, for all optical specifications |
透射波前誤差 | < λ/4 RMS at λ = 633 nm | Peak-to-valley error < 5 x RMS value measured within clear aperture |
光束偏差 | ≤ 10 arc seconds | Measured per inch |
表面質(zhì)量 | 40-20 scratch-dig | Measured within clear aperture |
Orientation | Coating (Text) towards light Coating (Text) away from light | For use as a polarizer For use as an analyzer |
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