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目錄:江陰韻翔光電技術(shù)有限公司>>光譜儀器>>采樣附件>> SA-Stage-C單點反射測量支架

SA-Stage-C單點反射測量支架
  • SA-Stage-C單點反射測量支架
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 無錫市
屬性

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更新時間:2023-12-19 12:35:14瀏覽次數(shù):6984評價

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組件類別 光學(xué)元件
SA-Stage-C單點反射測量支架是一個光纖探頭支架,用于厚度達150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達80mm。

SA-Stage-C單點反射測量支架


SA-Stage-C單點反射測量支架是一個光纖探頭支架,用于厚度達150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達80mm。

規(guī)格SA-Stage-C
尺寸:Φ150mm×厚10mm
高度:垂直可調(diào)高度80mm
材質(zhì):鋁合金
表面處理:亞光發(fā)黑
適配產(chǎn)品:QR系列反射光纖
用途:專為反射光纖測量而設(shè)計,能有效固定光纖探頭,防止因抖動等人為因素影響檢測效果.

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