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LIBS手持式金屬元素分析儀
  • LIBS手持式金屬元素分析儀
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貨物所在地:江蘇無錫市

地: 中國

更新時間:2024-09-26 21:00:07

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激光誘導擊穿光譜(Laser Induced Breakdown Spectroscopy,簡稱LIBS)是一種原子發(fā)射光譜。它利用高能量聚焦脈沖激光光束激發(fā)樣品表面,對產生的原子光譜通過算法分析得到對應元素成分及含量,是一種快速定性及定量的工業(yè)用分析技術。

LIBS手持式金屬元素分析儀

 

快速合金pai號鑒定

無輻射,低維護成本

特別適用于鋁合金的pai號及成分檢測

 

激光誘導擊穿光譜(Laser Induced Breakdown Spectroscopy,簡稱LIBS)是一種原子發(fā)射光譜。它利用高能量聚焦脈沖激光光束激發(fā)樣品表面,對產生的原子光譜通過算法分析得到對應元素成分及含量,是一種快速定性及定量的工業(yè)用分析技術。

2012年8月,美國宇航局(NASA)的“好奇號(Curioity)”探測車正式登陸火星,該探測車上搭載了一套LIBS設備作為對傳統(tǒng)XRF設備的補充,對火星巖石進行了成分分析實驗,出色的完成了檢測任務,從而LIBS技術開始被人所熟知。

Vela手持LIBS光譜儀可用于鐵基、鋁基、銅基、鎳基等金屬合金材料的牌號鑒別及對合金材料元素的定量鑒定。

 

應用領域

工業(yè)生產(Fabrication)和的材料鑒定(Positive Material Identification,PMI)

Vela手持LIBS光譜儀能對各類不銹鋼及鋁合金進行快速pai號鑒別,比如可以輕松分辨如6061和6063牌號的鋁合金。還可以對鑄鋁及鋅合金原料的Si、Cu含量進行檢測,以判斷原材料質量是否達到國家標準。

圖片2.png

回收(Recycling )、分揀(Sorting)

隨著回收、再生原材料在冶金行業(yè)使用比例的逐年上升,Vela手持LIBS光譜儀可以為客戶在購買、分揀及熔煉前對回收材料進行篩選,出廠前對成品牌號進行再次確認,在生產和銷售環(huán)節(jié)提供有效保障,提高其質量管理體系,減少出錯率,降低成本提高效益。

圖片3.png

交易(Trading)

在各類金屬交易市場,交易雙方利用Vela手持LIBS光譜儀對不銹鋼、鋁合金、銅合金pai號的現場快速鑒定及主要成分的現場定量檢測,從而避免由于材質不達標而導致的損失。

圖片4.png

產品簡介

Class 3B 激光

我們使用基于高能脈沖的安全激光技術,全無熒光儀器(XRF)的電離輻射危害。激光經過光路會聚后不再準直,正常使用時對眼睛*傷害。可靠的脈沖激光壽命很長,一般可達百萬次以上使用壽命。

 

激光安全開關

Vela手持LIBS光譜儀頭部的安全開關精心設計,要求面板必須緊貼被測物表面才可以打開激光進行測試,避免誤操作而觸發(fā)激光??蛇x機械式和感光式安全開關可以適應平面、曲面及碎屑狀被測物體。

圖片5.png

快速

軟件高度集成,一鍵式操作,任何單次測試時間不超過1秒鐘。

 

精致小巧的機身

我們的手持LIBS光譜儀整機重量(連電池)僅1.25千克,輕于市面上任何一款手持金屬測試儀。體積小、重心平衡,符合人體工學要求,適合長時間手持使用。

 

激光器性能:-15~+75度高低溫循環(huán) >10G振動沖擊測試

電子環(huán)境測試-1:通過:(GB/T2323.2-2008)高低溫試驗

電子環(huán)境測試-2通過:(GB/T2323.10-2008)振動試驗

電子環(huán)境測試-3通過:(GB/T2323.5-1995)沖擊試驗

電子環(huán)境測試-4通過:(GB/T 2323.6-1995)碰撞試驗

電磁兼容性測試:通過(GB/T17626.9-2011)脈沖磁場抗擾度試驗

合金數據庫:包含約150種常用合金材料,可自定義合金pai號,用戶數據庫管理及生成分析報告

 

頂an工業(yè)設計

全封閉外殼(IP54)防水防塵。高強度機身大量采用鋁合金材料,堅固耐磨且散熱效果好,適用于戶外操作和惡劣的工業(yè)應用環(huán)境,適合長時間手持操作。大容量鋰電池組可持續(xù)使用一整天。儀器無任何脆弱易損部件,比傳統(tǒng)熒光光譜儀更加可靠,用戶僅需極低的維護費用即可長期使用。

 

手持LIBS(激光)光譜儀 與手持XRF(熒光)光譜儀 的對比

 Vela手持LIBS合金光譜分析儀手持XRF合金光譜分析儀
安全性無輻射,IIIB人眼安全激光。有X光電離輻射,在使用時需注意安全防 護,操作人員需經過嚴格培訓后上崗操作
檢測速度設備即開即用,操作簡單,一秒即可出合金pai號及含量結果。設備需較長時間預熱,1~3秒可出牌號, 15~30秒出合金元素含量結果。
使用及維護成本無易損部件,核心部件的使用壽命超過百萬 次測試,正常使用狀況維護費用極低。X光發(fā)生器、熒 光探測器均為易耗、易損 部件,更換費用高昂。
可分析元素重金屬元素、以及包含鈹等輕元素。對鎂(Mg)到鈾(U)的元素進行簡單的牌

Vela手持LIBS光譜儀是一種新型的快速合金檢測分析儀,在參數性能、應用領域等方面媲美或超過手持XRF合金分析儀。但在產品價格、使用成本及維護費用方面具備更高的性價比,而在安全性方面更是遠超手持XRF合金分析儀,Vela產品的購置和使用成本遠低于同類設備,已經被越來越多的工業(yè)企業(yè)列入采購計劃。

我們高效的售后服務團隊為您的設備提供長達一年的免費售后保障和極低成本的后續(xù)延保服務,并能在維保期間提供同樣規(guī)格的備用設備,讓您安心使用而無需承擔意外費用。

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