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SA-Stage-C單點反射測量支架
  • SA-Stage-C單點反射測量支架
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貨物所在地:江蘇無錫市

更新時間:2024-11-01 21:00:08

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SA-Stage-C單點反射測量支架是一個光纖探頭支架,用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達(dá)80mm。

SA-Stage-C單點反射測量支架


SA-Stage-C單點反射測量支架是一個光纖探頭支架,用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達(dá)80mm。

規(guī)格SA-Stage-C
尺寸:Φ150mm×厚10mm
高度:垂直可調(diào)高度80mm
材質(zhì):鋁合金
表面處理:亞光發(fā)黑
適配產(chǎn)品:QR系列反射光纖
用途:專為反射光纖測量而設(shè)計,能有效固定光纖探頭,防止因抖動等人為因素影響檢測效果.

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