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表面粗糙度檢測(cè)方法

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更新時(shí)間:2018-12-03 15:05:46瀏覽次數(shù):2527

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表面粗糙度檢測(cè)方法同時(shí)能記錄表面輪廓曲線的稱為表面粗糙度輪廓儀(簡(jiǎn)稱輪廓儀)適用于測(cè)量Rα為0.025~6.3μm的表面粗糙度。目前被廣泛地用于表面粗糙度測(cè)量,而且用它所獲得的結(jié)果經(jīng)常作為評(píng)價(jià)其它方法的參考標(biāo)準(zhǔn)。

詳細(xì)介紹

簡(jiǎn)單介紹

有很多種,觸針?lè)ā⒈容^法、光切法、干涉法是主要的幾種表面粗糙度檢測(cè)方法

 

的詳細(xì)介紹

表面粗糙度反映的是機(jī)械零件表面的微觀幾何形狀誤差,表面粗糙度檢測(cè)方法很多,主要方法如下:

1 、觸針?lè)ㄓ纸嗅樏璺?br />    利用針尖曲率半徑為 2μm左右的金剛石觸針沿被測(cè)表面緩慢滑行,金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長(zhǎng)度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號(hào),經(jīng)放大、濾波、計(jì)算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值,也可用記錄器記錄被測(cè)截面輪廓曲線。一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測(cè)量工具稱為表面粗糙度測(cè)量?jī)x,同時(shí)能記錄表面輪廓曲線的稱為表面粗糙度輪廓儀(簡(jiǎn)稱輪廓儀)適用于測(cè)量Rα為0.025~6.3μm的表面粗糙度。目前被廣泛地用于表面粗糙度測(cè)量,而且用它所獲得的結(jié)果經(jīng)常作為評(píng)價(jià)其它方法的參考標(biāo)準(zhǔn)。

<strong>表面粗糙度檢測(cè)方法</strong>-觸針?lè)? src=

2、比較法
    將表面粗糙度比較樣塊(簡(jiǎn)稱樣塊)根據(jù)視覺(jué)和觸覺(jué)與被測(cè)表面比較,判斷被測(cè)表面粗糙度相當(dāng)于哪一個(gè)數(shù)值,或測(cè)量其反射光強(qiáng)變化來(lái)評(píng)定表面粗糙度。樣塊是一套具有平面或圓柱表面的金屬塊,表面經(jīng)磨、車、鏜、銑、刨等切削加工,電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時(shí)可直接從工件中選出樣品經(jīng)過(guò)測(cè)量并評(píng)定合格后作為樣塊。利用樣塊根據(jù)視覺(jué)和觸覺(jué)評(píng)定表面粗糙度的方法雖然簡(jiǎn)便,但會(huì)受到主觀因素影響,常不能得出正確的表面粗糙度數(shù)值。對(duì)測(cè)量精度要求不高的可以使用這種方法。

 

<strong>表面粗糙度檢測(cè)方法</strong>-比較法

3、光切法
    光線通過(guò)狹縫后形成的光帶投射到被測(cè)表面上,以它與被測(cè)表面的交線所形成的輪廓曲線來(lái)測(cè)量表面粗糙度。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后,以45°的傾斜角將狹縫投影到被測(cè)表面,形成被測(cè)表面的截面輪廓圖形,然后通過(guò)物鏡將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測(cè)微目鏡和讀數(shù)鼓輪先讀出h值,計(jì)算后得到H 值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱為光切顯微鏡。它適用于測(cè)量RZ和Ry為0.8~100μm的表面粗糙度,需要人工取點(diǎn),測(cè)量效率低。
34、干涉法
    利用光波干涉原理 (見(jiàn)平晶、激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù))將被測(cè)表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來(lái),并利用放大倍數(shù)高 (可達(dá)500倍)的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進(jìn)行測(cè)量,以得出被測(cè)表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱為干涉顯微鏡。這種方法適用于測(cè)量Rz和Ry為 0.025~0.8μm的表面粗糙度。

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