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X熒光光譜儀在RoHS檢測上的應用看完本篇你就知道了

閱讀:1425      發(fā)布時間:2022-11-2
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  近幾年來,隨著人們環(huán)保意識的不斷提高,電子電氣產(chǎn)品引發(fā)的環(huán)境污染問題越來越受重視。關(guān)于在電子電氣產(chǎn)品上限制使用某些有害物質(zhì),已經(jīng)成為各國在環(huán)保領(lǐng)域采取的新舉措,紛紛推出強制性的技術(shù)法規(guī)。
 
  RoHS是由歐盟于2003年1月立法制定的一項強制性標準,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標準,目的在于消除電子電氣產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚等有害物質(zhì)。
 
  2015年6月4日,歐盟公報(OJ)發(fā)布RoHS2.0修訂指令(EU)2015/863,正式將DEHP、BBP、DBP、DIBP列入附錄II 限制物質(zhì)清單中,至此附錄II共有十項強制管控物質(zhì)。
 
  X熒光光譜儀(XRF)是由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。其工作原理是:X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),來激發(fā)被測樣品。
 
  受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
 
  元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。
 
  X熒光光譜儀在RoHS檢測上的應用
 
  目前,許多電子電氣企業(yè)基本采用以下兩種方法解決產(chǎn)品的RoHS檢測:一是采用外送檢測機關(guān),這種方法一般檢測時間很長,一個樣品六項指標全部檢測完需要7個工作日,且樣品抽樣量過小,這樣造成測試成本過高;二是自建實驗室 ,實驗室建造成本很高,動輒都要百萬元以上,同時需要配備多名專業(yè)人員,人工成本也是個不小的數(shù)目。
 
  我國制訂的國家標準SJ/T 11365-2006《電子信息產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的檢測方法》,對RoHS要求中有害元素測試方法給予了限定,其中X射線熒光光譜法作為一種快捷、方便的方法被制定為快速篩選方法。
 
  歐盟海關(guān)為了提高通關(guān)檢測效率,目前在電子電氣產(chǎn)品RoHS檢測上大多采用X熒光光譜檢測方法,對于X熒光光譜檢測合格的產(chǎn)品,基本可以快速放行。
 
  所以企業(yè)購置X熒光光譜儀可以模擬歐盟的通關(guān)篩選過程,從而規(guī)避一些通關(guān)風險。另外現(xiàn)在國內(nèi)可以檢測RoHS的X熒光光譜儀價格基本在10—50萬元左右,這比起自建一個專業(yè)實驗室或者長期送檢的費用要少很多,可以大大節(jié)省企業(yè)成本。

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