MicroDerm MP-900貝塔射線涂鍍層厚度測試儀

■β射線反向散射測量技術(shù)
■依照標(biāo)準(zhǔn)ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的準(zhǔn)則
■應(yīng)用在測量許多經(jīng)典結(jié)構(gòu)的鍍層厚度，包括鎳上鍍金（Au/Ni）,環(huán)氧樹脂鍍銅（Cu/epoxy），光致抗蝕劑(photoresist)，銅上鍍銀（Ag/Cu），科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫(Sn/kovar)，鐵上鍍氮化鈦(Ti-N/Fe)，錫鉛合金(Sn-Pb)。
■MicroDerm MP-900可以利用霍爾效應(yīng)技術(shù)測量銅上鍍鎳（Ni/Cu）的厚度。
■探頭系統(tǒng)可以用于精確測量各種樣品表面，從小零件（連接器和端子）到大零件（印制線路板）。
■MicroDerm BBS厚度標(biāo)準(zhǔn)片（4點設(shè)定）包括：純材料的底材，表面鍍層的純材料無限厚片和兩塊經(jīng)過NIST（美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)委員會）認證的標(biāo)準(zhǔn)厚度的薄片。
■高質(zhì)量的制造技術(shù)確保盡可能精確的鍍層厚度測量。
■設(shè)計體現(xiàn)了的易操作性和高效率。

TESTING INSTRUMENTATION
Micro-Derm MP-900 
只有MP900融合了β射線反向散射和霍爾效應(yīng)測量技術(shù)。避免了因為存在兩種需要而購買了兩種儀器的麻煩。
■緊湊的設(shè)計
■全面的測量能力
■經(jīng)濟的X射線熒光分析儀器的替代品
■提高生產(chǎn)量
■45種標(biāo)準(zhǔn)檔案記憶允許用戶快速的進行應(yīng)用轉(zhuǎn)換。
■*的NOVRAM 設(shè)計使得即使在備用電源斷電時仍可以保留有價值的校準(zhǔn)檔案。
■標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)模式：4點，3點，2點，線性，多點和Sn-Pb.
■特殊的多點Sn-Pb校準(zhǔn)模式可以對不同的Sn-Pb組分進行自動補償和修正。
■新的3點BBS模式并不需要純材料鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片。
■多點校正模式應(yīng)用于霍爾效應(yīng)測量（測量鎳厚）。
 

探頭，底座和配件
PS-10A 探頭系統(tǒng)
用于測量微小零件
這種緊湊的輕量的探頭系統(tǒng)特別設(shè)計用來測量微小的電子原器件，例如：芯片（IC），焊盤，晶體管頭和導(dǎo)線，扁平集成電路，繼電器，終端，針，二極管，連接器，電纜等。
型號為PS-10A的探頭應(yīng)用了特大直徑的G-M管以便取得更準(zhǔn)確的測量結(jié)果，并且改善了統(tǒng)計功能。這種G-M管可以在鍍層測試時探測β射線反射微粒數(shù)量，并且將這種脈沖信號傳送給Micro-Derm主機，在主機里這種脈沖信號被轉(zhuǎn)換成數(shù)字顯示的厚度讀數(shù)。

可互換的放射源/光圈組件
*的放射源環(huán)和光圈盤組件模塊確保了簡單的易更換性，可以方便的重組大量的放射源-光圈組合，從而可以測量幾乎所有的小零件。
各種尺寸和型號的光圈盤配置可以方便的對測量面積進行精確限定。每種放射源和用戶的光圈盤一起配套成為放射源/光圈組件模組。
光圈盤是由硬質(zhì)耐磨不銹鋼制成，并且可以作成圓形或者長方形。彈簧針將測試件牢牢固定住，暴露在光圈盤開窗下的測試件區(qū)域的鍍層厚度將被測試出來。

光圈器固定裝置
對于難以定位的測試件，UPA為客戶提供了光圈器固定裝置。網(wǎng)格固定裝置可以對特殊零件進行更為方便的定位，例如焊盤，小連接器，導(dǎo)線，等。這種完整的組件是由零件固定器設(shè)備和配套的精確光圈盤組成。

CB-5型底座
專門用于印制線路板測試
這種新的線路板型CB-5底座，可以為在印制線路板上的表面鍍層厚度進行出乎意外的快速和精確測量。
通過這種*的光學(xué)定位系統(tǒng)，CB-5就可以方便地將HH-3測試探頭（見上頁）定位在線路板上的微小區(qū)域內(nèi)。將CB-5放置在線路板上，線路板上的被檢測點將被照亮，并不需要類似十字準(zhǔn)線式的對準(zhǔn)方法進行對準(zhǔn)。
既然CB-5底座可以移動到線路板上的任何位置，那么它就可以對即使處于特大型線路板的中心位置這樣類似難以檢測的區(qū)域進行測試。通過利用C-3卡子和HH-3探頭系統(tǒng)就可以快速的對放置在CB-5中的探頭進行更換。

Micro-Derm探頭和底座
HH-3探頭
一套獨立的探頭系統(tǒng)包括一個盛裝β射線放射源（Pm,Tl,Sr）的探頭桶(MB-3),一個Geiger-Muller(G-M)管，一個樣品罩。
這種多樣化的探頭可以和多種探頭底座和支架相配套，從而可以確保對各種尺寸和形狀的零件進行測量，例如線路板，圓柱，制罐用薄板材料，平板，底盤，小零件。

HH-4探頭
    這種緊湊的獨立的探頭系統(tǒng)確保可以測量直徑小至0.5"(12.7mm)內(nèi)曲面或內(nèi)
平面的激光視盤。這種*的配置可以使β射線微粒從探頭側(cè)面開窗發(fā)射出來?？梢詼y量軸承、環(huán)狀物、管子、波導(dǎo)、圓柱等內(nèi)側(cè)表面的金、銠、銀、石墨、錫鉛合金以及其它鍍層的厚度。

TR-1探頭系統(tǒng)
這種探頭用于測量高密硬盤，金屬薄片，膠帶，硅晶片，等。用探頭TR-1把樣品放置在β射線放射源和G-M管探測器之間進行測量是非接觸的，這樣就允許不斷的移動金屬薄片和膠帶進行測量，需要配置Tl放射源。

TR-1探頭系統(tǒng)提供非接觸的測量。

小零件探頭底座SPG-1
這種底座用于定位HH-3探頭對小型電子零件進行測量，比如連接器，針頭，焊盤，電線，扁平集成電路和接觸端。樣品固定壓力針可以安全的固定樣品。這種底座可以確保同樣的標(biāo)準(zhǔn)HH-3探頭既可以用于測量有巨大的表面的零件，也可以測量小型零部件。

上海益朗儀器有限公司專業(yè)的應(yīng)用工程師將很高興為適應(yīng)您的特殊的測量應(yīng)用的需要而配置挑選合適的零部件。