脈沖群發(fā)生器 NSG 3060 - 模塊化6kV測(cè)試解決方案

優(yōu)惠供應(yīng)特測(cè) TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器

• 模塊化，可擴(kuò)展系統(tǒng)
• 浪涌電壓高達(dá)6.6 kV
• 7”彩色觸摸屏，便于操作
• IEC 和ANSI 兩種耦合方式
• DTA (直接測(cè)試程序調(diào)用) 可快速提供標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試設(shè)置
• 測(cè)試過(guò)程中也可以更改測(cè)試參數(shù)
• 大量可選測(cè)試附件
• 高精度開(kāi)關(guān)切換技術(shù)，滿(mǎn)足ANSI 耦合方式的要求

特測(cè) TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器規(guī)格參數(shù)：

1.2/50 - 8/20 us綜合波脈沖(混合浪涌脈沖) — CWM 3450符合IEC/EN 61000-4-5, GB/T17626.5和ANSI (IEEE) C62.41的脈沖模塊；
0.5 us/100 kHz振鈴波 — RWM 3652符合IEC/EN 61000-4-12, GB/T17626.5和ANSI (IEEE) C62.41的脈沖模塊；
5/50 ns 脈沖群 (EFT) — FTM 3425符合IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4標(biāo)準(zhǔn)；
電壓跌落和變化 — PQM 3403 符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標(biāo)準(zhǔn)；
電壓變化測(cè)試 — VAR 系列調(diào)壓器 符合IEC/EN 61000-4-11，GB/T 17626.11標(biāo)準(zhǔn)；
脈沖磁場(chǎng)測(cè)試 — INA753和磁場(chǎng)測(cè)試線(xiàn)圈INA701/INA 702 符合IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9；
工頻磁場(chǎng)測(cè)試 — MFO 6501 / MFO 6502和INA 702產(chǎn)生的工頻磁場(chǎng)
符合IEC/EN61000-4-8，GB/T，17626.8；

特測(cè) TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器滿(mǎn)足眾多的國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)：

IEC/EN 61000-4-5,

GB/T17626.5,

ANSI (IEEE) C62.41,

IEC/EN 61000-4-12,

IEC/EN 61000-4-4,

GB/T 17626.4,

IEC/EN 61000-4-11,

GB/T 17626.11,

IEC/EN 61000-4-9,

GB/T 17626.9,

IEC/EN61000-4-8,

GB/T 17626.8

特測(cè) TESEO NSG 3060 脈沖群發(fā)生器特點(diǎn)及應(yīng)用：

   *CE標(biāo)識(shí)和ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求而設(shè)計(jì), *CE標(biāo)識(shí)和ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求而設(shè)計(jì)，良好技術(shù)的組件，超高對(duì)比度的7”彩色觸摸屏，友好的圖形顯示界面，專(zhuān)家模式，TA(測(cè)試程序)功能，SD記憶卡讀卡器。