您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
11
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
三維形貌儀特點(diǎn)：
雙模式三維表面形貌儀是集合了共焦光學(xué)形貌儀，WLI白光干涉形貌儀，原子力顯微鏡，接觸和非接觸式雙模式表面形貌檢測
三維形貌儀參數(shù)：
項(xiàng) 目 簡 述 | 參數(shù)說明 |
1、雙模式三維表面形貌儀——共焦 | 可 快速垂直掃描的旋轉(zhuǎn)盤共焦技術(shù)。 使用高數(shù)值孔徑 (0.95) 以及高倍數(shù)的 (150X) 3D全視野3D鏡頭，用以表征坡度分析 (zui大斜率<干涉測量>: 72o vs 44o) 。 具有光學(xué)形貌上zui高的橫向分辨率，附有5百萬自動分辨率的CCD相機(jī)， 空間下樣可調(diào)至0.05um，是表面特征以及形貌的測量的*配置。 在測量表面粗糙度/表面反射率上無限制（0.1%- *) 應(yīng)用于透明層/薄膜。 兼容亮視野&暗視野; 光學(xué)DIC。 長距離遠(yuǎn)攝鏡頭是用以測量高縱橫比以及坡度特性的理想之選。 *的穩(wěn)定性。
|
2、雙模式三維表面形貌儀——干涉儀（WLI） | Z向高分辨率, 亞納米級 兼具相移（PSI）以及垂直掃描（VSI）模式 Z向分辨率可獨(dú)立放大 四色CCD 相機(jī)，用戶可自選的LED光源 (白光，綠光，藍(lán)光和紅光) 高達(dá)五百萬像素的可自動分辨的CCD 相機(jī) 快速處理器在業(yè)界位于水平 自動對焦
|
3、雙模式三維表面形貌儀——原子力顯微鏡 | 探針掃描可用于大型模板 X, Y, Z三向可達(dá)原子級分辨率 大壓電探針掃描XY: 達(dá)到 110x110um |
4、雙模式三維表面形貌儀——變焦 | 粗糙度表面分析 快速分析 特點(diǎn)：一臺設(shè)備上集成非接觸式白光干涉形貌儀 高精度原子力顯微鏡 |