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半導體測試高低溫設備

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參考價 20000
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  • 型號
  • 品牌 愛佩科技/A-PKJ
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 東莞市
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更新時間:2024/11/04 15:39:44瀏覽次數:1378

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產品簡介

產地類別 國產 價格區(qū)間 2萬-5萬
應用領域 能源,建材,電子
簡介:半導體測試高低溫設備應用于,試驗各種產品及材料耐熱,耐寒,耐高溫,耐濕性能。適合電子,光伏組件,電器,食品,車輛,金屬,化學,建材等工廠,科研單位,院校之用。

詳細介紹

簡介:半導體測試高低溫設備應用于,試驗各種產品及材料耐熱,耐寒,耐高溫,耐濕性能。適合電子,光伏組件,電器,食品,車輛,金屬,化學,建材等工廠,科研單位,院校之用。
技術參數:
1.測試環(huán)境條件:環(huán)境溫度為+5~+28℃、試驗箱內無試樣條件下
2.測試方法:GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設備
3.溫度范圍:0℃/-20℃/-40℃/-70℃~+150℃
4.控制精度:溫度:±0.2℃(控制器設定值和控制器實測值之差)
5.溫度波動度:≤0.5℃(溫度波動度為中心點實測高溫度和低溫度之差的一半)
6.溫度誤差:≤±1℃(工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點實測的平均溫度)
7.溫度均勻度:≤2.0℃(溫度均勻度為每次測試中實測高溫度和低溫度之差的算術平均值)
8.升溫速率:3℃/min可調(非線性空載)
9.降溫速率:1℃/min可調(非線性空載)
10.工作噪音:A聲級≤75dB(A) 
半導體測試高低溫設備試驗標準:
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗方法 Ab
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb
GJB150.4-1986低溫試驗
GJB150.3-1986高溫試驗
結構特征
1.外壁材料:優(yōu)質沙面不銹鋼板
2.內壁材料:優(yōu)質鏡面不銹鋼板
3.箱體保溫材料:硬質聚氨酯泡沫+玻璃纖維
4.采多翼離心式循壞風扇,加強軸心加耐高低溫之旋轉葉片鋁合金制成,以達強制對流。
5.送風方式;水平擴散垂直熱交換弧形循環(huán)。
6.可調式側吹出風口及護綱回風口。
7.觀察窗:透明電熱膜中空鋼化玻璃1個(位于門上)
8.門上備室內照明燈(高效節(jié)能燈)
9.移動腳輪:4個
10.固定腳杯:4個(高度可調)
11.樣品架:不銹鋼樣品架2層,掛鉤8個,承重(均布):25kg/層(箱內樣品累計總承載不超過:100kg)

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