產(chǎn)品分類品牌分類
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熒光燈管生產(chǎn)老化實驗設(shè)備 人工光源的老化試驗機 觸摸屏UV測試箱 uv紫外光輻照度老化箱 光照 燈管 UV 冷凝箱 紫外線檢測試驗機 模擬陽光模擬試驗箱 深圳老化箱 uv能量測試儀 染料耐光耐氣候試驗箱 紫外線熱老化箱 化工耐候測試設(shè)備 紫外線碳素電弧燈實驗箱 UV照射燈試驗箱 熒光紫外燈控溫供濕箱 紫外線燈管耐候設(shè)備 紫外加速試驗箱 紫外線強度檢測儀 紫外光耐候箱 UV老化機 UV耐候測試儀 紫外線uv燈 uv試驗輻照度箱 橡膠支座老化試驗箱 氣候耐環(huán)境試驗箱 紫外光照試驗機 紫外線老化測試儀 UV紫外老化試驗箱 三功能紫外線加速老化試驗箱 二功能紫外線加速老化試驗箱 單功能紫外線加速老化試驗箱
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
深圳高低溫試驗箱 高低溫交變箱 高低溫穩(wěn)定性試驗箱用途:
適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進行高低溫試驗,低溫恒溫及儲存。
深圳高低溫試驗箱 高低溫交變箱 高低溫穩(wěn)定性試驗箱設(shè)備結(jié)構(gòu)
主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。
試驗箱體設(shè)計*,采用數(shù)控機床加工成型,并采用無反作用把手,操作容易。
箱門密封采用精制硅橡膠,從而在高、低溫下不存在老化及硬化現(xiàn)象。
電源電壓:AC220V50HZ/380V50HZ
使用環(huán)境溫度:15℃~+30℃ ≤85%R.H
采用多翼式強力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
空氣循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回溫時間快。
可選配件 控制儀:進口“TEMI360"智能可編程控制器/“TEMI880"觸摸屏控制器(選配件,訂購時需另外收費)
高低溫試驗箱標(biāo)準(zhǔn)配置耐高、低溫鋼化玻璃內(nèi)熱式中空玻璃觀察窗:220×180(mm)一個,照明燈一只,測試引線孔¢50mm一個,樣品架2付,帶腳輪
深圳高低溫試驗箱 高低溫交變箱 高低溫穩(wěn)定性試驗箱技術(shù)參數(shù):
型號AP-GD-150A(B/C)
工作室尺寸:mm:500×500×600
外型尺寸:mm:920×850×1670
電壓/功率:A型:220V/3KW|B型:380V/4KW|C型:380V/5KW
溫度范圍:A型:-20℃~+150℃|B型:-40℃~+150℃|C型:-70℃~+150℃
波動度/均勻度:≤±0.5℃/≤2℃
升溫速率:1.0~3.0℃/min
降溫速率:0.7~1.0℃/min
外箱材料:低溫箱優(yōu)質(zhì)A3鋼板靜電噴塑/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理
內(nèi)箱材料:進口優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼板
高低溫試驗箱保溫材料:超細(xì)玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡
箱門密封:雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅 膠密封條
控制儀:進口“富士"儀表
精度范圍:溫度±0.1℃,指示精度:溫度±0.1℃,解析度:±0.1℃
溫度傳感器:鉑金電阻PT100Ω/MV
循環(huán)系統(tǒng):高低溫試驗箱耐溫低噪音型電機,單循環(huán)、加長 軸、不銹鋼多葉式離心風(fēng)葉
加熱方式:鎳鉻合金電加熱式加熱器
內(nèi)膽為進口SUS304不銹鋼板,外殼為A3板噴塑處理,更顯光潔、美觀。
保溫系統(tǒng)高低溫試驗箱采用超細(xì)玻璃纖維或硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡填充保溫區(qū),以保證箱體內(nèi)部溫度。
溫度控制采用進口儀表,具有P.I.D自動演算的功能,人性化設(shè)計的操作方法,易學(xué)易用。
獨立的加溫與制冷系統(tǒng)使設(shè)備更有效的提高升溫、降溫、效率。
制冷系統(tǒng)為全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)。
制冷方式 單元制冷方式/雙元(復(fù)疊)制冷方式(風(fēng)冷)
高低溫試驗箱冷卻器:“泰康"多級膜片式蒸發(fā)器
壓縮機:“泰康"全封閉制冷壓縮機/“泰康"全封閉制冷壓縮機組
定時功能:0.1~99.99(S、M、H)
安保裝置:高低溫試驗箱電源超載、漏電、接地、超溫保護(帶聲訊提示)、快速保險絲、壓縮機過壓保護
深圳高低溫試驗箱 高低溫交變箱 高低溫穩(wěn)定性試驗箱設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-2001:電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程|試驗A:低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001:電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程|試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89:電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程|高溫低溫試驗導(dǎo)則