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行業(yè)產(chǎn)品

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[供應(yīng)]前快速溫變試驗(yàn)箱
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  • 前快速溫變試驗(yàn)箱
貨物所在地:
廣東東莞市
更新時(shí)間:
2024-12-17 21:00:21
有效期:
2024年12月17日 -- 2025年6月17日
已獲點(diǎn)擊:
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產(chǎn)品簡介

前品牌快速溫變試驗(yàn)箱用于電子電器零部件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、兵工業(yè)、航天、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)陶磁及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的抵抗力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。從精密的IC到重工機(jī)械零部件,無一不需要它的測試.

詳細(xì)介紹

前快速溫變試驗(yàn)箱產(chǎn)品介紹:
用于電子電器零部件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、兵工業(yè)、航天、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)陶磁及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的抵抗力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。從精密的IC到重工機(jī)械零部件,無一不需要它的測試.
 它zui快的速度可以每分種升降溫20℃,當(dāng)然也可以根據(jù)顧客的要求選擇非標(biāo)設(shè)計(jì)定制出符合國標(biāo)參數(shù)的箱子。非標(biāo)定制升降溫速度可選擇線性或者非線性2℃/min、3℃/min、4℃/min、5℃/min、6℃/min、7℃/min、8℃/min、9℃/min、10℃/min、15℃/min至20℃/min范圍內(nèi)可選。尺寸大小可以在廠家提供的6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)選擇,也可以把自己要求的寬、高、深(內(nèi)尺寸)提供給廠家定制。

前快速溫變試驗(yàn)箱是樣品在人工設(shè)計(jì)*極低的溫度強(qiáng)度極限下,愛佩廠家運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)交變時(shí),樣品產(chǎn)生交替的膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使樣品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變,通過加速溫變應(yīng)力來使?jié)摯嬗跇悠返蔫Υ酶‖F(xiàn)[潛在樣品零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵],以避免該樣品在使用過程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效或者故障,造成不必要的重大損失,對于提高樣品出貨質(zhì)量與降低故障返修次數(shù)有著明顯的效果,另外快速溫度變化本身是一種制程階段的過程,而不是一種可靠度試驗(yàn),所以快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是100%對產(chǎn)品進(jìn)行的程序測試的選擇。。。

型號和尺寸
型號          溫度范圍     濕度范圍     內(nèi)尺寸(W*H*D)   外箱尺寸(W*H*D)
AP-KS-225C  -40~150℃     20%~~98%    500*750*600mm     1100*1620*1180mm
AP-KS-408D  -60~150℃     20%~~98%    600*850*800mm     1200*1720*1280mm
AP-KS-800D  -70~150℃     20%~~98%    1000*1000*800mm   1560*1860*1350mm
AP-KS-1000D  -70~150℃    20%~~98%    1000*1000*1000mm  1560*1860*1550mm
A:0℃~150 ℃;B:-20℃~150℃;C:-40℃~150℃;D:-60℃~150℃;  D:-70℃~150℃;備注以上溫度范圍可很有任意選擇套用在不同的尺寸上做報(bào)價(jià)方案及生產(chǎn)。即不可的尺寸大小也可以套用不同的溫度范圍。

符合標(biāo)準(zhǔn):
GJB/150.3A-2009  軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB/150.4A-2009  軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分:低溫試驗(yàn)
GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
GJB/150.9A-2009  軍裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分:濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
GB/T 10586 -2006  濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10592 -2008  高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

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