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產(chǎn)品分類品牌分類
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低溫恒溫恒濕試驗(yàn)室 高低溫測(cè)試箱 高低溫試驗(yàn)機(jī) 高溫高濕 濕熱箱 電子防潮老化測(cè)試箱 模擬環(huán)境濕熱氣候儀器 防水耐熱測(cè)試箱 恒溫恒濕老化試驗(yàn)箱 高低溫溫濕度交變?cè)囼?yàn)箱 耐寒耐熱試驗(yàn)箱 調(diào)溫調(diào)濕環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 濕熱試驗(yàn)機(jī) 水冷溫箱 濕熱檢測(cè)箱 溫濕度控制箱 溫濕度試驗(yàn)機(jī) 恒溫恒濕機(jī) LED恒溫恒濕試驗(yàn)箱 80L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 150L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 225L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 恒溫恒濕試驗(yàn)箱 408L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 800L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 1000L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱
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熒光燈管生產(chǎn)老化實(shí)驗(yàn)設(shè)備 人工光源的老化試驗(yàn)機(jī) 觸摸屏UV測(cè)試箱 uv紫外光輻照度老化箱 光照 燈管 UV 冷凝箱 紫外線檢測(cè)試驗(yàn)機(jī) 模擬陽(yáng)光模擬試驗(yàn)箱 深圳老化箱 uv能量測(cè)試儀 染料耐光耐氣候試驗(yàn)箱 紫外線熱老化箱 化工耐候測(cè)試設(shè)備 紫外線碳素電弧燈實(shí)驗(yàn)箱 UV照射燈試驗(yàn)箱 熒光紫外燈控溫供濕箱 紫外線燈管耐候設(shè)備 紫外加速試驗(yàn)箱 紫外線強(qiáng)度檢測(cè)儀 紫外光耐候箱 UV老化機(jī) UV耐候測(cè)試儀 紫外線uv燈 uv試驗(yàn)輻照度箱 橡膠支座老化試驗(yàn)箱 氣候耐環(huán)境試驗(yàn)箱 紫外光照試驗(yàn)機(jī) 紫外線老化測(cè)試儀 UV紫外老化試驗(yàn)箱 三功能紫外線加速老化試驗(yàn)箱 二功能紫外線加速老化試驗(yàn)箱 單功能紫外線加速老化試驗(yàn)箱
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
步入式試驗(yàn)室 超低溫廠房實(shí)驗(yàn)室是用于做恒定溫度、恒定濕度或者交變溫濕度做試驗(yàn)用的獨(dú)立試驗(yàn)室（類似于房間，人可以隨意步行出入）。主要用于用于工業(yè)產(chǎn)業(yè)界的物品提供批量或者大型成本或者零部件做高溫恒溫、低溫恒溫、高溫恒濕、低溫恒濕、高低溫交變、高低溫濕交變、恒溫恒濕、等試驗(yàn)。此設(shè)備容積較大、有的類似房間大小、有的類似于房子大小，人甚至可以像進(jìn)房間的室內(nèi)一樣可以自由活動(dòng)，一般只根據(jù)客戶需求的試驗(yàn)室尺寸大小與溫濕度范圍定制。采用冷庫(kù)板拼塊式組裝而成，造型美觀大方；科學(xué)的風(fēng)道與加濕、加溫系統(tǒng)設(shè)計(jì)，能滿足不同客戶的不同產(chǎn)品需求，長(zhǎng)期為廣大顧客量物定制。操作控制使用采用進(jìn)口智能微電腦觸摸屏控制器，PLC可編程邏輯控制器，通過(guò)數(shù)字或模擬式輸入/輸出控制各種溫濕度的試驗(yàn)及工作過(guò)程。
步入式試驗(yàn)室 超低溫廠房實(shí)驗(yàn)室技術(shù)參數(shù)：
一、尺寸大小：寬200×高200×深200㎝（可以根據(jù)客戶要求定制，外尺寸以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)）
二、溫度范圍：0℃/--20℃/-40℃/-60℃/-70℃～＋85℃/100℃（顧客可選擇任意一個(gè)溫度范圍，溫度越低價(jià)格越貴，請(qǐng)根據(jù)自家產(chǎn)品的需求選擇合適即可）。
三、溫度波動(dòng)度: ±0.5℃（溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測(cè)zui高溫度和zui低溫度之差的一半）。
四、溫度均勻度: ±2.0℃（溫度均勻度為每次測(cè)試中實(shí)測(cè)zui高溫度和zui低溫度之差的算術(shù)平均值）。
五、升溫時(shí)間: 由常溫+10℃升溫至＋85℃小于60分鐘非線性空載升溫約3℃/min。
六、降溫時(shí)間: 由常溫+10℃降至0℃小于30分鐘非線性空載降溫約1℃/min，由常溫+10℃降至-20℃小于45分鐘非線性空載降溫約1℃/min，由常溫+10℃降至-40℃小于60分鐘非線性空載降溫約1℃/min。
七、工作噪音
A聲級(jí)≤60dB(A)
(在環(huán)溫25℃，回聲少的隔音室內(nèi)測(cè)得；采用A計(jì)權(quán)，測(cè)試8個(gè)點(diǎn)的平均值；各測(cè)試點(diǎn)水平離噪音源1米、高度離地面1米)
滿足與執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)如下：
GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫；
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）