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產(chǎn)品分類品牌分類
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熒光燈管生產(chǎn)老化實驗設(shè)備 人工光源的老化試驗機 觸摸屏UV測試箱 uv紫外光輻照度老化箱 光照 燈管 UV 冷凝箱 紫外線檢測試驗機 模擬陽光模擬試驗箱 深圳老化箱 uv能量測試儀 染料耐光耐氣候試驗箱 紫外線熱老化箱 化工耐候測試設(shè)備 紫外線碳素電弧燈實驗箱 UV照射燈試驗箱 熒光紫外燈控溫供濕箱 紫外線燈管耐候設(shè)備 紫外加速試驗箱 紫外線強度檢測儀 紫外光耐候箱 UV老化機 UV耐候測試儀 紫外線uv燈 uv試驗輻照度箱 橡膠支座老化試驗箱 氣候耐環(huán)境試驗箱 紫外光照試驗機 紫外線老化測試儀 UV紫外老化試驗箱 三功能紫外線加速老化試驗箱 二功能紫外線加速老化試驗箱 單功能紫外線加速老化試驗箱
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
sop封裝高低溫交變試驗箱 高低溫交變檢測設(shè)備的編程方式有兩種，一種是可程式，另一個種是定值式，那么可程式的就常被稱為可程式高低溫實驗箱?？沙淌绞侵缚删幊淌?，按照溫度變送器的運作流程，人工編制試驗條件程序，輸入芯片中。 芯片按照程序，以極短的時間掃描各個端口的狀態(tài)，并按照程序?qū)⒔Y(jié)果輸出到另外一些端口。 而設(shè)備通過控制器指令自動完成顧客設(shè)定的程式內(nèi)容要求。愛佩公司生產(chǎn)的可程式高低溫實驗箱采用智能型可程式溫度控制器，以液晶觸摸屏方式顯示溫度值，有加熱器、傳感器故障指示、變送功能、帶有RS/232或RS/485通訊接口可供遠(yuǎn)程監(jiān)控，顧客可通過觸屏編程自行設(shè)定系統(tǒng)參數(shù)。采用高精度的濕敏電阻為傳感器，對設(shè)備的溫度和濕度進(jìn)行實時監(jiān)控并通過負(fù)載進(jìn)行有效的控制。該儀表集測量、顯示、控制及通訊于一體，精度高、測量范圍寬，是一種適合于各個行業(yè)和領(lǐng)域的溫度測量控制儀表。
sop封裝高低溫交變試驗箱 高低溫交變檢測設(shè)備可程式控制器的主要功能：
1、5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏，中英文操作畫面任意選擇，觸控式屏幕面板，操作簡單，美觀大方，程序編輯容易。
2、zui大具有120組可編定的程序容量，每組可記憶100段溫度自行操作。
3、具有多項擴充功能，控制器可經(jīng)由RS/232或RS/485接口與計算機聯(lián)機，也可定制USB導(dǎo)出數(shù)據(jù)，可連接打印機打印高低溫度曲線監(jiān)控數(shù)據(jù)。
4、可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、實時顯示執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
5、故障報警，并顯示排除故障的方法。
6、采用*的微處理器芯片，可靠性高，抗干擾能力強。
的規(guī)格如下：
1.內(nèi)箱尺寸：500*600*500mm(W* H *D)(還有更大也還有更小的尺寸，想?yún)⒖颊垚叟迕赓M提供產(chǎn)品目錄參考）
2.外箱尺寸：1100 * 1480 *1080mm (W* H *D)（一般外尺寸跟實物會有些許相差，建議預(yù)留多點地方擺放設(shè)備）
3.溫濕度范圍：0℃/-20℃/-40℃/-60℃/-70℃～+150℃（高溫固定，低溫可選擇，溫度越低價格越貴）；溫度范圍：20%RH-98%RH
4.溫濕度控制精度：±0.2℃；±2.5%RH
5.溫濕均勻度：±0.2℃；±3%RH
6.升溫時間：100℃/25min;150℃/35min
7.重量：約300KG
8.內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼
9.外箱材質(zhì)：不銹鋼霧面線條處理或噴塑鍍鋅鋼板
10.保溫材質(zhì)：硬質(zhì)聚氨酯泡沫+玻璃纖維。
11.風(fēng)路循環(huán)方式：離心風(fēng)機+寬帶式強迫氣流循環(huán)（上出下進(jìn)）
12.制冷方式：采用泰康全密閉式壓縮機
13.制冷劑：R404A R23 U.S.A HONEYWELL
14.加熱器：鎳鉻合金電熱絲加熱器
15.加濕器：不銹鋼護套式加濕器
16.供水方式：水泵提升
17.附屬功能：1. 自診斷功能；故障報警及原因、處理提示功能。2. 上下限溫度保護功能；斷電保護功能。3. 日歷定時功能(自動啟動及自動停止運行)。
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N 溫度變化試驗方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 軍標(biāo)準(zhǔn)；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗
EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化