當前位置:成都恒通興業(yè)科技有限責任公司>>無損檢測設備>>超聲波測厚儀>> LEPTOSKOP2042LEPTOSKOP2042涂層測厚儀,德國KD,涂層測厚儀
Magna-Mike 8600測厚儀,便攜式測厚儀,壁厚測厚儀
成都恒通興業(yè)科技有限責任公司專業(yè)為您推薦LEPTOSKOP2042涂層測厚儀
EPTOSKOP2042涂層測厚儀簡介:
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準的測量技術和簡單的操作方法,是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現場迅速的升級。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀 利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚。
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統相結合,同時提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經濟的產品,電池壽命長,可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數量,因此一些重要的參數可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內,可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
LEPTOSKOP2042技術參數:
數據傳輸接口RS232 或 USB
電源:電池、充電電池、USB或外接電源
測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
測量速度: 每秒測量2個數值
存儲: zui多 9999 個數值,140個文件
誤差:
涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數 +/- 1 um (校準后)
涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數 +/- 1 um
涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數 +/- 10 um
涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀附件:
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數據傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的讀數或全部文件傳輸到Windows
咨詢
:蔣
:
號:
請輸入賬號
請輸入密碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。