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中級(jí)會(huì)員 | 第10年

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食品金屬探測(cè)機(jī)的故障問(wèn)題

時(shí)間:2016/7/18閱讀:2224
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    食品金屬探測(cè)機(jī)應(yīng)用中電源故障問(wèn)題的處理:當(dāng)食品金屬探測(cè)機(jī)供電電源的負(fù)載發(fā)生巨大變化時(shí)會(huì)產(chǎn)生電纜噪音。這會(huì)對(duì)金屬探測(cè)系統(tǒng)的性能產(chǎn)生不利影響,甚會(huì)使系統(tǒng)出現(xiàn)錯(cuò)誤剔除等異常動(dòng)作。食品金屬探測(cè)機(jī)所使用的*電源應(yīng)當(dāng)是僅對(duì)低功率設(shè)備進(jìn)行供電的電源,并且不與對(duì)不同電流負(fù)載供電的其他電源相連。

食品金屬探測(cè)機(jī)應(yīng)用中電源故障問(wèn)題的處理:

    當(dāng)食品金屬探測(cè)機(jī)供電電源的負(fù)載發(fā)生巨大變化時(shí)會(huì)產(chǎn)生電纜噪音。這會(huì)對(duì)金屬探測(cè)系統(tǒng)的性能產(chǎn)生不利影響,甚會(huì)使系統(tǒng)出現(xiàn)錯(cuò)誤剔除等異常動(dòng)作。食品金屬探測(cè)機(jī)所使用的*電源應(yīng)當(dāng)是僅對(duì)低功率設(shè)備進(jìn)行供電的電源,并且不與對(duì)不同電流負(fù)載供電的其他電源相連。

食品金屬探測(cè)機(jī)電磁干擾故障問(wèn)題的處理:

    周圍的電子設(shè)備會(huì)影響金屬檢測(cè)機(jī)發(fā)出的電噪聲輻射的性能,甚使系統(tǒng)錯(cuò)誤刪除異常行為。從經(jīng)濟(jì)角度來(lái)看,這將導(dǎo)致大量的開銷,也會(huì)導(dǎo)致運(yùn)營(yíng)商失去信心。我們應(yīng)該努力確保在沒(méi)有電磁干擾(如:無(wú)線電發(fā)射機(jī))附近安裝金屬探測(cè)器。應(yīng)該完按照制造商的要求來(lái)檢測(cè)機(jī)附近的驅(qū)動(dòng)裝置安裝逆變器和速度。應(yīng)盡量保證電纜變換器,變速驅(qū)動(dòng)裝置遠(yuǎn)離金屬探測(cè)器或食品金屬探測(cè)機(jī)電纜。特別注意避免金屬探測(cè)器放置在電磁干擾的頻率范圍和試驗(yàn)機(jī)一樣的設(shè)備。

食品金屬探測(cè)機(jī)檢測(cè)靈敏度限制因素:

    經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)許多有關(guān)食品金屬探測(cè)機(jī)的靈敏度技術(shù)參數(shù)與實(shí)際運(yùn)行功能的疑惑與錯(cuò)誤信息。影響靈敏度的因素很多,如想使靈敏度數(shù)據(jù)具有意義,則需要根據(jù)目標(biāo)用途對(duì)其加以改進(jìn)。

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