激光顆粒計(jì)數(shù)器是精密光學(xué)儀器，用于檢測(cè)液體或氣體中的微粒濃度及粒徑分布。其故障多源于光學(xué)系統(tǒng)污染、流體系統(tǒng)堵塞、電子元件老化或操作不當(dāng)。以下從光學(xué)、流體、電子、軟件及機(jī)械結(jié)構(gòu)五方面解析常見故障及解決方法：
1. 激光強(qiáng)度衰減或異常
2. 散射光信號(hào)失真
?、?使用無水乙醇擦拭透鏡，避免纖維擦拭布?xì)埩簦?/div>
?、?替換老化的光電二極管或APD探測(cè)器；
?、?校準(zhǔn)光散射角度(如調(diào)整傅里葉透鏡位置)。
二、流體系統(tǒng)故障
1. 樣品流量異常
現(xiàn)象：流速過高/過低、氣泡干擾計(jì)數(shù)。
原因：
- 管路堵塞(如過濾器積垢、閥門開度不足)
- 蠕動(dòng)泵老化導(dǎo)致流量波動(dòng)
- 樣品粘度過高或含氣量超標(biāo)
解決：
① 反沖清洗管路(正向流動(dòng)相反方向加壓)，拆解清理過濾器；
?、?更換蠕動(dòng)泵管(建議每半年更換)，調(diào)整泵頭壓緊力；
③ 對(duì)高粘度樣品預(yù)熱至30-40℃降低粘度，超聲脫氣處理。
2. 泄漏與交叉污染
現(xiàn)象：背景計(jì)數(shù)升高、不同樣品測(cè)試結(jié)果混淆。
原因：
- 密封圈老化(氟橡膠材質(zhì)通常每年更換)
- 閥體切換不到位
解決：
?、?更換耐溶劑型密封圈(如Kalrez材質(zhì))；
?、?檢查電磁閥動(dòng)作狀態(tài)，清理閥口結(jié)晶物；
?、?增加吹掃氣體(如氮?dú)?隔離管路殘留。
三、電子系統(tǒng)故障
1. 信號(hào)采集異常
現(xiàn)象：脈沖信號(hào)丟失、計(jì)數(shù)誤差大。
原因：
- 前置放大器增益漂移
- 數(shù)據(jù)采集卡采樣率不足
- 接地不良引入電磁干擾
解決：
?、?校準(zhǔn)放大電路(調(diào)節(jié)可調(diào)電位器至出廠標(biāo)定值)；
?、?升級(jí)數(shù)據(jù)采集卡(推薦采樣率≥100MS/s)；
?、?采用單點(diǎn)接地并加裝磁環(huán)抑制高頻噪聲。
2. 通信與顯示故障
現(xiàn)象：軟件無法連接設(shè)備、屏幕花屏。
原因：
- USB/RS-232接口氧化腐蝕
- 工控機(jī)內(nèi)存不足或系統(tǒng)崩潰
解決：
?、?打磨接口氧化層后鍍錫修復(fù)；
?、?重裝操作系統(tǒng)(建議專用工控機(jī))，清理冗余后臺(tái)程序。
四、軟件與數(shù)據(jù)處理故障
1. 計(jì)數(shù)結(jié)果偏差
現(xiàn)象：同一樣品多次測(cè)試結(jié)果差異超±10%。
原因：
- 未執(zhí)行背景扣除(如潔凈度未達(dá)標(biāo))
- 延遲校正未開啟(顆粒通過檢測(cè)區(qū)時(shí)間補(bǔ)償)
解決：
?、?運(yùn)行空白對(duì)照測(cè)試，自動(dòng)扣除背景噪聲；
?、?啟用動(dòng)態(tài)延遲校正功能，優(yōu)化時(shí)間窗口參數(shù)。
2. 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)異常
現(xiàn)象：測(cè)試記錄丟失、文件損壞。
原因：
- 硬盤壞道或存儲(chǔ)空間不足
- 非正常關(guān)機(jī)導(dǎo)致數(shù)據(jù)寫入中斷
解決
?、?定期磁盤檢查(Chkdsk命令)，轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)至外部存儲(chǔ)；
② 配置UPS電源，禁止直接斷電操作。
五、機(jī)械結(jié)構(gòu)故障
1. 振動(dòng)導(dǎo)致光路偏移
現(xiàn)象：設(shè)備移動(dòng)后測(cè)試結(jié)果突變。
原因：
- 運(yùn)輸或安裝后未重新校準(zhǔn)水平
- 散熱風(fēng)扇共振傳導(dǎo)至光學(xué)平臺(tái)
解決：
① 使用水平儀調(diào)整至≤0.1°傾斜；
?、?加裝減震墊(如硅膠隔振腳套)。
2. 自動(dòng)進(jìn)樣器卡滯
現(xiàn)象：進(jìn)樣失敗、樣品溢出。
原因：
- 傳動(dòng)齒輪磨損(塑料材質(zhì)易老化)
- 導(dǎo)軌潤滑不足導(dǎo)致阻力增大
解決：
① 更換金屬齒輪或尼龍耐磨材質(zhì)；
?、?定期涂抹食品級(jí)潤滑油。
會(huì)員.png)
7
立即詢價(jià)
您提交后，專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)