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LEITZ探針測(cè)試方面
測(cè)試針,用于測(cè)試PCBA的一種探針。
表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
國外比較有名的生產(chǎn)廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT,INGUN,BT
探針的材質(zhì):W,ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質(zhì)為W,ReW, 彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長,壽命一般。
2. A+材質(zhì)的免清針,這種材質(zhì)彈性較好,測(cè)試中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此壽命較長。
LEITZ探針分類
探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針,國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;
B、在線測(cè)試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;
C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針 (ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關(guān)探針(Switch Probes)
開關(guān)探針單*支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測(cè)試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)
彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng),一般用于OSP處理過的PCBA測(cè)試.
7.高電流探針(High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.zui大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長.
10.汽車線束測(cè)試測(cè)試探針
專業(yè)用于汽車線束通斷檢測(cè),直徑在1.0--3.5mm之間,電流在3----50A