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島津EPMA微量元素分析在無鉛焊錫材料中的應(yīng)用

時(shí)間:2022-4-14 閱讀:645
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EPMA

無鉛焊錫材料

 

隨著微型電子電器的發(fā)展以及根據(jù)國家信息產(chǎn)業(yè)部《電子信息產(chǎn)品生產(chǎn)污染防治管理辦法》的規(guī)定,無鉛焊錫(lead-free solder)已逐漸成為電子電器行業(yè)中的主流焊料。相較普通焊錫,無鉛焊錫具有以下三大優(yōu)勢:

 

1. 溶化后出渣量比普通焊錫少,且具有優(yōu)良的抗氧化性能;

2. 溶化后粘度低,流動性好,可焊性高,適用于波峰焊接工藝;

3. 由于氧化夾雜極少,可以更大限度地減少拉尖、橋聯(lián)現(xiàn)象,焊接質(zhì)量可靠,焊點(diǎn)光亮飽滿。

 

無鉛焊錫中雜質(zhì)元素含量及分布的控制決定了焊料的質(zhì)量及最終的上錫效果,因此工廠需要借助電子探針(EPMA)的元素含量和圖像分析功能對無鉛焊錫中的雜質(zhì)含量和微觀分布進(jìn)行檢測。

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1. 島津場發(fā)射電子探針EPMA-8050G

 

島津EPMA-8050G型電子探針(圖1)搭載高質(zhì)量場發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng),結(jié)合島津*的52.5°高X射線取出角和全聚焦晶體,可以實(shí)現(xiàn):

 

1 *的空間分辨率

EPMA-8050G可達(dá)到的更高級別的二次電子圖像分辨率3nm(加速電壓30kV)。

(加速電壓10kV時(shí)20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA)

 

2 大束流更高靈敏度分析

可實(shí)現(xiàn)其他儀器所不能達(dá)到的大束流(加速電壓30kV時(shí)可達(dá)3μA)。在超微量元素的檢測靈敏度上實(shí)現(xiàn)了質(zhì)的飛躍,將元素面分析時(shí)超微量元素成分分布的可視化成為現(xiàn)實(shí)。

 

島津研發(fā)部門使用EPMA-8050G儀器在低加速電壓(7kV)條件下對電子元件和印刷電路板連接處的焊料層進(jìn)行了背散射(BSE)和元素面分布分析,圖2 展示了微米尺度(刻度尺5μm)上雜質(zhì)元素以點(diǎn)狀A(yù)g顆粒沉積為主,少量Cu顆粒沉積,確定了雜質(zhì)元素的種類。

 

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2. 焊料層背散射和元素面分布圖像分析(刻度尺5μm)

 

擴(kuò)大放大倍數(shù)(刻度尺500nm)對富集Ag顆粒區(qū)域進(jìn)行背散射和元素面分布分析,圖3展示清晰區(qū)分Ag顆粒所需的橫向空間分辨率大致為100nm甚至更小。

 

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3. 焊料層背散射和元素面分布圖像分析(刻度尺500nm)

 

使用高加速電壓(25kV)條件對相同視域進(jìn)行分析,圖4 展示Ag顆粒在高加速電壓條件下具有更廣的分布范圍(C、D點(diǎn)區(qū)域均有Ag顆粒分布),結(jié)合島津的電子傳播路徑顯示程序(Electron penetration display program)分析,圖5 展示高加速電壓條件下X射線出射深度更大,根據(jù)以上信息可模擬推斷出Ag雜質(zhì)顆粒在焊料層縱向上的分布(圖6)。

 

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4. 不同加速電壓(7kV和25kV)條件下背散射和Ag元素分布圖像

 

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5. 不同加速電壓條件下電子束作用范圍(紅色)和X射線出射深度(綠色)

 

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6. 推斷的Ag顆粒在焊料層內(nèi)的縱向分布

 

更多電子探針儀器信息和相關(guān)應(yīng)用敬請關(guān)注島津科技資訊通推文內(nèi)容。

 

本文內(nèi)容非商業(yè)廣告,僅供專業(yè)人士參考。

 

 


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