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SPM-9700掃描探針顯微鏡

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):

品       牌:SHIMADZU/島津

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:北京市

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更新時(shí)間:2024-09-05 21:23:39瀏覽次數(shù):2971次

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SPM-9700掃描探針顯微鏡島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環(huán)境、食品、化工、制藥、半導(dǎo)體、陶瓷及高分子等眾多領(lǐng)域客戶,多種樣品分析所需要的種類繁多的分析儀器。電子探針(EPMA)分析對(duì)象從幾厘米到幾微米;X射線光電子能譜儀(XPS)分析對(duì)象從幾毫米到幾微米;掃描探針顯微鏡(SPM)觀察范圍從100微米到幾納米。


 EPMA-1720 Series 電子探針高靈敏度 ·  高精度 ·  高分辨率 「簡(jiǎn)單?易懂的操作」

從軟件到硬件凝結(jié)了技術(shù),鑄就了新一代EPMA。島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎(chǔ)上,又新增了簡(jiǎn)單·易懂的操作性能,將電子探針功能發(fā)揮至*。既可滿足初學(xué)者簡(jiǎn)易操作的需求,又能適合專家級(jí)的科研分析。

 EPMA-1720 Series 電子探針*設(shè)計(jì)的X射線分光器可以實(shí)現(xiàn)高靈敏度·高精度分析

X射線取出角決定分析性能,52.5°高取出角更勝*

  
圖為小孔穴中異物的分析實(shí)例。左下圖為鐵(Fe)、右下圖為鈦(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,對(duì)表面凹凸明顯的樣品也能進(jìn)行高精度分析。




 從SEM觀察到開始分析,簡(jiǎn)便易行,大幅度提高工作效率。

同一顯示器上同時(shí)顯示高靈敏度的光學(xué)圖像和SEM圖像

在同一個(gè)顯示器上觀察光學(xué)圖像和SEM圖像。


SEM圖像和光學(xué)圖像在同一顯示器上,減少視線的移動(dòng)。


通過(guò)高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。





只需單擊一下即可開始SEM圖像觀察。
只需點(diǎn)擊【SEM AUTO】圖標(biāo),就可以根據(jù)事先設(shè)定的條件進(jìn)行SEM圖像的觀察。


 EPMA-1720 Series 電子探針
束流變換更加簡(jiǎn)單·快速·高精度,且保持聚焦。
只需選定束流目標(biāo)值即可快速、高精度地自動(dòng)設(shè)定束流。
通過(guò)聯(lián)動(dòng)控制,束流大小改變后也能保持圖像聚焦?fàn)顟B(tài)。



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