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高低溫交變濕熱試驗箱

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  • 高低溫交變濕熱試驗箱
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具體成交價以合同協議為準
  • 型號 KGDJS-7008
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 上海市
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更新時間:2018-09-14 09:09:03瀏覽次數:424

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產品簡介

高低溫交變濕熱試驗箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗環(huán)境,并滿足相關標準對試驗箱的要求,主要適用于電工、電子產品整機及零部件進行耐寒試驗、溫濕度變化或劇變條件下的適應性試驗;特別適用于進行電子、電工產品的環(huán)境模擬溫濕度試驗。

詳細介紹

高低溫交變濕熱試驗箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗環(huán)境,并滿足相關標準對試驗箱的要求,主要適用于電工、電子產品整機及零部件進行耐寒試驗、溫濕度變化或劇變條件下的適應性試驗;特別適用于進行電子、電工產品的環(huán)境模擬溫濕度試驗。

 

高低溫交變濕熱試驗箱系統(tǒng)利用*的環(huán)境模式技術進行設計和制造,產品達到國內水平。采用能量調節(jié)技術、節(jié)能設計、密封性好、高強度、易清洗,符合審美觀的標準化整體式結構箱體;具有操作簡便、控制系統(tǒng)自動化程度高、系統(tǒng)運行穩(wěn)定、*運行時間長等優(yōu)點。

KGDJS-7008使用條件:

1.環(huán)境溫度:5℃~+32℃

2.周圍不應有高濃度粉塵、腐蝕性氣體和易燃易爆氣氛存在。

3.電壓AC 220V±10%;頻率:50Hz±5%;

4.滿足設備裝機容量要求

5.保證指標正常使用環(huán)境溫度應≤28℃

KGDJS-7008技術參數:

型號

溫濕度范圍

工作室尺寸(cm)
D深×W寬×H高

外型尺寸(cm)
D深×W寬×H高

技術指標

功率(KW)

電源電壓

KGDJS-

 
 
 
-20℃~+150℃
20%~98%R.H

40×40×50

95×95×136

+20℃→+150℃
約60min
+20℃→-20℃
約40min
+20℃→-40℃
約60min
+20℃→-70℃
約90min
溫度波動度
±0.5℃
濕度偏差:
±3.0%R.H
(濕度>75%RH).
±5.0%RH
(濕度≤75%RH)
設定精度:溫度0.1℃,濕度1%RH
指示精度:溫度0.1℃、濕度1%RH

5.0

220

KGDJS-2015

50×50×60

106×106×146

6.0

220

KGDJS-2020

60×50×75

116×106×161

6.5

220

KGDJS-2040

80×60×85

126×116×171

7.0

220

KGDJS-2080

80×100×100

130×155×185

7.5

380

KGDJS-2100

100×100×100

148×155×185

8.0

380

KGDJS-4008

 
 
 
-40℃~+150℃
20%~98%R.H

40×40×50

95×95×136

5.5

220

KGDJS-4015

50×50×60

106×106×146

6.5

220

KGDJS-4020

60×50×75

116×106×161

7.0

220

KGDJS-4040

80×60×85

126×116×171

7.5

220

KGDJS-4080

80×100×100

130×155×185

8.0

380

KGDJS-4100

100×100×100

148×155×185

8.5

380

KGDJS-7008

 
 
-70℃~+150℃
20%~98%R.H

40×40×50

95×95×136

6.5

380

KGDJS-7015

50×50×60

106×106×146

8.5

380

KGDJS-7020

60×50×75

116×106×161

9.5

380

KGDJS-7040

80×60×85

126×116×171

10.5

380

KGDJS-7080

80×100×100

130×155×185

11.5

380

KGDJS-7100

100×100×100

148×155×185

12.0

380

滿足標準:

1. GB/T 2423.1-2001電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法

2. GB/T 2423.2-2001電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法

3. GB/T 2423.4-2002 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db交變濕熱試驗

4. GB/T 5170-86 電工電子產品環(huán)境試驗設備參數檢測方法(溫度試驗設備)

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