德瑞華測(cè)量技術(shù)(蘇州)有限公司

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[供應(yīng)]NanoScan-德國HOMMEL NanoScan高精密粗糙輪廓度測(cè)量?jī)x

貨物所在地:北京北京市

產(chǎn)地:德國

更新時(shí)間:2024-10-19 17:59:01

有效期:2024年10月19日 -- 2025年4月20日

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德國HOMMEL NanoScan高精密粗糙輪廓度測(cè)量?jī)x

霍梅爾NanoScan高精密粗糙輪廓度測(cè)量?jī)x可以在一個(gè)測(cè)量流程內(nèi)組合測(cè)量粗糙度和輪廓,柔性大,能夠滿足表面測(cè)量技術(shù)的所有需求,既省時(shí),又省費(fèi)用。

 

 

 

技術(shù)特點(diǎn)主要特點(diǎn)
?電子測(cè)頭臂識(shí)別技術(shù)?超精密的光機(jī)探測(cè)系統(tǒng)
?探測(cè)頭的電子保護(hù)裝置?通用性好
?電子調(diào)節(jié)探測(cè)力?極富人性化的設(shè)計(jì)
?高精度的測(cè)頭臂定位?測(cè)頭臂的選擇范圍廣
?可上下測(cè)量?創(chuàng)新的技術(shù)
?校準(zhǔn)方法簡(jiǎn)單
?新的評(píng)價(jià)可能:可上下測(cè)量,測(cè)量工件表面形貌時(shí)的測(cè)量行程大

 

校準(zhǔn)方法
校準(zhǔn)整個(gè)系統(tǒng)時(shí)只需一個(gè)球形標(biāo)準(zhǔn)件

帶電子識(shí)別功能的測(cè)頭臂支架

由于使用了磁性測(cè)頭臂支架,所以測(cè)頭臂的更換迅速可靠

可上下測(cè)量

測(cè)頭臂安裝了雙探測(cè)頭,所以一次運(yùn)行可上下探測(cè)

 


 

霍梅爾-艾達(dá)米克NanoScan

 

選項(xiàng)供貨范圍

?用于特殊測(cè)量需求的粗糙度和輪廓測(cè)頭臂

?經(jīng)過認(rèn)證的qs-STAT接口(AQDEF)。

?輪廓標(biāo)準(zhǔn)塊KN8

?可保護(hù)測(cè)量系統(tǒng)免受環(huán)境影響的護(hù)罩

 

 

?帶22"TFT顯示屏的評(píng)價(jià)電腦,CD刻錄器,粗糙度和輪廓測(cè)量評(píng)價(jià)軟件

?具有自動(dòng)保存功能的PDF打印機(jī)

?wavecontrol™basic操作面板

?包含3個(gè)帶金剛石探測(cè)頭或紅寶石測(cè)頭的測(cè)頭臂

?粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊RNDH2

?用于緊固工件的測(cè)量臺(tái)MT1 XYO

?校準(zhǔn)用球形標(biāo)準(zhǔn)件

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

型號(hào)NanoScan855
測(cè)量范圍R+C:24/48mm
zui小分辨率R+C:0.6/1.2nm
水平測(cè)量范圍/水平分辨率200mm/0.01μm
測(cè)量立柱行程550mm
硬巖石板850x600mm

 

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