紫外線由德國(guó)物理學(xué)家J. W. Ritter在1801年發(fā)現(xiàn)，其波長(zhǎng)在10~400 nm范圍之間。按波段通常劃分為：真空紫外（200-10 nm），UV-A（400-320 nm），UV-B（320-280 nm），UV-C（280-200 nm）。

     太陽(yáng)光通過(guò)大氣層時(shí)，臭氧層對(duì)240nm-280nm的紫外線強(qiáng)烈吸收，無(wú)法到過(guò)地表而形成一個(gè)特殊的盲區(qū)，稱為日盲區(qū)，典型的電暈放電光譜恰好覆蓋日盲區(qū)，電暈測(cè)試儀的日盲紫外通道利用該譜段進(jìn)行電暈放電的探測(cè)，并與可見(jiàn)光通道配合實(shí)現(xiàn)電暈放電的定位。

紫外線由德國(guó)物理學(xué)家J. W. Ritter在1801年發(fā)現(xiàn)，其波長(zhǎng)在10~400 nm范圍之間。按波段通常劃分為：真空紫外（200-10 nm），UV-A（400-320 nm），UV-B（320-280 nm），UV-C（280-200 nm）。

     太陽(yáng)光通過(guò)大氣層時(shí)，臭氧層對(duì)240nm-280nm的紫外線強(qiáng)烈吸收，無(wú)法到過(guò)地表而形成一個(gè)特殊的盲區(qū)，稱為日盲區(qū)，典型的電暈放電光譜恰好覆蓋日盲區(qū)，電暈測(cè)試儀的日盲紫外通道利用該譜段進(jìn)行電暈放電的探測(cè)，并與可見(jiàn)光通道配合實(shí)現(xiàn)電暈放電的定位。

      紅外熱像儀可檢測(cè)放電積累或漏電流引起的溫升,但這是一種間接檢測(cè)放電的方法。

      用紫外成像檢測(cè)zui直觀測(cè)試電暈放電的方法，上通用的方法。

紫外成像儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

Ø采用半導(dǎo)體紫外探測(cè)器，體積小、重全天候工作，*不受太陽(yáng)光影響

Øzui小紫外光靈敏度  2.2*10-18W/cm2

Ø智能電源管理，超長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間

Øzui小放電靈敏度  1pc于10米距離

Ø視場(chǎng)  7°

Ø聚焦  紫外通道與可見(jiàn)光通道同步電動(dòng)調(diào)焦

Ø可見(jiàn)光像素  200萬(wàn)