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[供應(yīng)]C-6-C系列探針臺(tái)臺(tái)體

貨物所在地:上海上海

更新時(shí)間:2024-11-06 21:00:33

有效期:2024年11月6日 -- 2025年5月6日

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附件:
鍍金卡盤
射頻測(cè)試探頭/電纜
有源探頭
低電流/電容測(cè)試
高壓測(cè)試
激光修復(fù)
CCD/數(shù)字相機(jī),USB接口
探針卡/封裝/PCB板夾具
加熱裝置
防震桌
屏蔽箱
顯微鏡暗場(chǎng)/Normarski 檢測(cè)

性能:
 

1、真空吸附6"卡盤: 有4", 6",8"產(chǎn)品可選

2、卡盤X-Y方向線性移動(dòng)行程:6"-6"

3、卡盤上/下移動(dòng)行程:4mm

4、全新設(shè)計(jì),體積小重量輕,可便攜使用

5、同軸滑臺(tái),單手即可操控X-Y兩軸的移動(dòng)

6、線性無(wú)回差調(diào)節(jié)

7、改進(jìn)的低重心設(shè)計(jì)使臺(tái)體更加穩(wěn)定

8、吸盤可快速升降也可精細(xì)慢調(diào),故樣品在Z軸方向可快速調(diào)節(jié)也可細(xì)步慢調(diào)

9、適用領(lǐng)域:6”晶圓或其他樣品點(diǎn)測(cè),包括大學(xué)與科研單位、晶圓廠、光電器件、IV/CV及RF測(cè)試等   

 

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