CAMTEK  自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)AOI設(shè)備 MEMS

Camtek檢驗(yàn)和計(jì)量解決方案的微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)結(jié)合多種技術(shù)解決MEMS的2 d和3 d挑戰(zhàn)的行業(yè)。

我們*的靈活平臺(tái)支持MEMS產(chǎn)業(yè)廣泛的應(yīng)用程序。
各種處理配置和特殊的發(fā)展可以支持各種晶片大小和類型。

功能

•整片2 d檢查和計(jì)量
•表面相關(guān)缺陷檢查
•各種處理解決方案(薄和泰科晶圓和更多)
•高分辨率的2 d和3 d測(cè)量
•多個(gè)照明配置各種功能的檢查
•靈活的檢測(cè)環(huán)境定制的應(yīng)用程序

技術(shù)

•先進(jìn)的缺陷檢測(cè)和計(jì)量處理引擎
•高分辨率三維共焦傳感器
•剪輯

產(chǎn)品

頭鷹

頭鷹年代的2 d表面缺陷檢驗(yàn)和計(jì)量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)高容量生產(chǎn)前2 d檢查解決方案和post-bumped晶片,探針標(biāo)記檢查,OQc等等。

EagleT-i

設(shè)計(jì)的速度和準(zhǔn)確性,Camtek EagleT-i是一個(gè)最快的和的2 d檢查工具在市場(chǎng)上。