瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱儀

【結(jié)構(gòu)特點(diǎn)】

1.儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：O ISO 2 22007-2 2008

2.測(cè)試范圍廣泛，測(cè)試性能穩(wěn)定，在國內(nèi)同類儀器中，處于；
3.直接測(cè)量，測(cè)試時(shí)間 5-160s 左右可設(shè)置，能快速準(zhǔn)確的測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù)，節(jié)約了大量的時(shí)間；
4.不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；
5.無須特別的樣品制備，對(duì)樣品形狀并無特殊要求，塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿足長(zhǎng)寬至少為探頭直徑的兩倍即可；
6.對(duì)樣品實(shí)行無損檢測(cè)，意味著樣品可以重復(fù)使用；
7.探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)，結(jié)合專屬數(shù)學(xué)模型，利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算；
8.樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙，操作方便，適合放置不同厚度的樣品，同時(shí)簡(jiǎn)潔美觀；
9.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進(jìn)口的數(shù)據(jù)采集芯片，該芯片的高分辨率，能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠；
10.主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了 ARM 微處理器，運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快，提高了系統(tǒng)的分析處理能力，計(jì)算結(jié)果更加準(zhǔn)確；
11.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定；
12.智能化的人機(jī)界面，彩色液晶屏顯示，觸摸屏控制，操作方便簡(jiǎn)潔；
13.強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力。高度自動(dòng)化的計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)通訊和報(bào)告處理系統(tǒng)。

瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱儀

【工作原理】

  瞬態(tài)平面熱源技術(shù)(TPS)是用于測(cè)量導(dǎo)熱系數(shù)的一種新型的方法，由瑞典 Chalmer 理 工 大 學(xué) 的 SilasGustafsson 教授在熱線法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。它測(cè)定材料熱物性的原理是基于無限大介質(zhì)中階躍加熱的圓盤形熱源產(chǎn)生的瞬態(tài)溫度響應(yīng)。利用熱阻性材料做成一個(gè)平面的探頭，同時(shí)作為熱源和溫度傳感器。合金的熱阻系數(shù)一溫度和電阻的關(guān)系呈線性關(guān)系，即通過了解電阻的變化可以知道熱量的損失，從而反映了樣品的導(dǎo)熱性能。該方法的探頭即是采用導(dǎo)電合金經(jīng)刻蝕處理后形成的連續(xù)雙螺旋結(jié)構(gòu)薄片，外層為雙層的絕緣保護(hù)層，厚度很薄，它令探頭具有一定的機(jī)械強(qiáng)度并保持與樣品之間的電絕緣性。在測(cè)試過程中，探頭被放置于樣品中間進(jìn)行測(cè)試。電流通過探頭時(shí)，產(chǎn)生一定的溫度上升，產(chǎn)生的熱量同時(shí)向探頭兩側(cè)的樣品進(jìn)行擴(kuò)散，熱擴(kuò)散的速度依賴于材料的熱傳導(dǎo)特性。通過記錄溫度與探頭的響應(yīng)時(shí)間，由數(shù)學(xué)模型可以直接得到導(dǎo)熱系數(shù)。

【測(cè)試對(duì)象】

金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物、復(fù)合材料、紙、織物、泡沫塑料（表面平整的隔熱材料、板材）、礦物棉、水泥墻體、玻璃增強(qiáng)復(fù)合板 CRC、水泥聚苯板、夾心混凝土、玻璃鋼面板復(fù)合板材、紙蜂窩板、膠體、液體、粉末、顆粒狀和膏狀固體等等，測(cè)試對(duì)象廣泛。

【技術(shù)參數(shù)】

1.測(cè)試范圍: 0.005—300W/(m*K)
2.測(cè)量溫度范圍: 室溫—130℃
3.探頭直徑: 一號(hào)探頭 7.5mm；二號(hào)探頭 15mm
4.精度: ±3%
5.重復(fù)性誤差: ≤3%
6.測(cè)量時(shí)間: 5~160 秒
7.電源: AC 220V
8.整機(jī)功率: ﹤500w
9.樣品溫升:﹤15℃
10.測(cè)試樣品功率 P：一號(hào)探頭功率 0<P<1w；二號(hào)探頭功率 0<P<14w
11.樣品規(guī)格：
一號(hào)探頭所測(cè)單個(gè)樣品（15*15*3.75mm）；二號(hào)探頭所測(cè)單個(gè)樣品(30*30*7.5mm)
注：1 號(hào)探頭所測(cè)的是厚度較薄的低導(dǎo)材料。如所測(cè)樣品表面光滑平整且具有粘
性可將樣品進(jìn)行疊加
12. 機(jī)器外形：500*410*200mm