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Analysette22 NanoTec-程納米激光粒度儀
  • Analysette22 NanoTec-程納米激光粒度儀
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貨物所在地:北京北京市

地: 德國

更新時間:2024-07-27 21:00:06

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德國Fritsch公司是實(shí)驗(yàn)室樣品預(yù)處理和顆粒度分析的。Fritsch公司的Analysette22 NanoTec程納米激光粒度儀,采用聚焦激光散射、衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測。Z低檢測下限可達(dá)0.01µm ,在同類產(chǎn)品中都處于*地位。

程納米激光粒度儀

德國Fritsch公司是實(shí)驗(yàn)室樣品預(yù)處理和顆粒度分析的。

其生產(chǎn)的A22 NanoTec 程納米激光粒度儀,采用聚焦激光散射、衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測。zui低檢測下限可達(dá)0.01µm ,在同類產(chǎn)品中都處于地位。

A22 NanoTec 的推出,可以*替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀,讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機(jī)器的全部功效,使用更加便捷。

詳細(xì)資料請到北京飛馳科學(xué)儀器有限公司下載專區(qū)下載該產(chǎn)品的產(chǎn)品樣本及相關(guān)技術(shù)文章。


程納米激光粒度儀技術(shù)參數(shù):
1. 分析方法:激光散射/激光衍射
2. 濕法測量范圍:0.01 - 2100 µm
3. 測量時間:5-10 s(單一測量時測量值記錄);2 min(整個測量循環(huán))
4. 分析樣品回路體積:300-500ml,可調(diào)節(jié)容積, 可調(diào)速徑向泵
5. 測量周期:2min
6. 光學(xué)排列:反傅立葉設(shè)計(jì),活動的測量元件(FRITSCH)
7. 測量通道:108
8. 測量結(jié)果的重現(xiàn)性:≤0.5%
9. 光源:波長532nm 1束、波長940 nm 1束
10. 雙激光兩束設(shè)計(jì):綠光、紅色雙激光測量光束
11.傅里葉透鏡:260mm和560mm焦距(綠光或紅外線)
12.軟件:采用FRITSCH MaS控制軟件,用于控制,記錄和評估測量結(jié)果
13.符合ISO13320標(biāo)準(zhǔn)

 

程納米激光粒度儀主要特點(diǎn):
1. 程
激光粒度儀A22 NanoTec,可*替代以前的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀
2. 雙激光設(shè)計(jì): 綠光1束 (532nm), 紅色激光1束 (940nm)
3. 的曲光系統(tǒng)
4. 雙測量位置
5. 測量時間10 sec.
6. 高效的自動光束測量陣列
7. 測量系統(tǒng)和濕法分散系統(tǒng)獨(dú)立分開
8. 適用于在水相及大多數(shù)有機(jī)相(例如異丙醇) 中使用
9.可調(diào)節(jié)容積, 通過電腦可實(shí)現(xiàn)選擇:300、400、500ml
10.測量單元使用 Cardridge-like 設(shè)計(jì) -> 易于轉(zhuǎn)換改變
11.可調(diào)節(jié)的超聲波探頭
12.無須使用攪拌器

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