一、基本原理：

由激光器發(fā)出的平行光照射到測量區(qū)中的顆粒群時會產(chǎn)生衍射現(xiàn)象，衍射散射光的強度分布被光電探測器捕捉獲取后，將照射光能轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電信號，通過相應(yīng)的算法計算出被測顆粒的平均粒徑以及分布。

二、主要技術(shù)特點:

測量模塊：

*1. 測量范圍:0.01 -3800 µm

2. 激光：同波長的半導(dǎo)體激光器（綠光，λ=532nm，3mW，壽命高達(dá)10000小時）

*3. 斜向設(shè)計測量池放置位置，能夠獲取更大的散射角，使小顆粒散射光更易捕捉，并有效避免全反射現(xiàn)象對測量結(jié)果造成的影響。

4. 反傅里葉光路設(shè)計，120個真實測量通道

5. 光路系統(tǒng)為自動免維護設(shè)計，無可移動、轉(zhuǎn)動部件，光路系統(tǒng)穩(wěn)定

*6. 背向的散射光反射器能夠加強小顆粒散射光的捕捉，提高極小顆粒的分辨率