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Park NX12-原子力顯微鏡
  • Park NX12-原子力顯微鏡
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貨物所在地：上海上海市

更新時(shí)間：2024-08-30 21:00:06

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- 原子力顯微鏡（AFM）有納米級(jí)分辨率成像以及電，磁，熱和機(jī)器性能測量的能力。

- 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM）。

- 倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

Park NX12可用于任何一個(gè)項(xiàng)目

NX系列的眾多掃描模式和模塊化設(shè)計(jì)使它可輕松地適應(yīng)任何一個(gè)掃描探針顯微鏡的需求。

 

- 標(biāo)準(zhǔn)成像

  • 真正的非接觸模式AFM

  • 接觸模式AFM

  • 側(cè)向力顯微鏡（LFM)

  • 相位成像

  • 輕敲式AAFM

 

-電性能

  • 導(dǎo)電AFM

  • I-V譜線

  • 掃描開爾文探針顯微鏡（SKPM/KPM)

  • 高電壓SKPM

  • 掃描電容顯微鏡（SCM)

  • 掃描電阻顯微鏡（SSRM)

  • 掃描隧道顯微鏡 （STM)

  • 掃描隧道光譜 （STS)

  • 時(shí)間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)

 

- 磁性能

  • 磁力顯微鏡 （MFM)

  • 可調(diào)外加磁場MFM

     

-化學(xué)性能

  • 掃描電化學(xué)池顯微鏡（SECCM)

  • 掃描電化學(xué)顯微鏡 （SECM)

  • 電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)

  • 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡

 

-熱性能

  • 掃描熱感顯微鏡(SThM)

 

-光學(xué)性能

  • 探針增強(qiáng)拉曼光譜 (TERS)
  • 時(shí)間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)

 

-介電/壓電性能

  • 靜電力顯微鏡 （EFM)

  • 動(dòng)態(tài)接觸式靜電力顯微鏡（DC-EFM)

  • 壓電力顯微鏡 （PFM)

  • 高電壓PFM

 

-機(jī)械性能

  • Pinpoint納米力學(xué)映射

  • 力調(diào)制顯微鏡 （FMM)

  • 納米壓痕

  • 納米刻蝕

  • 高電壓納米刻蝕

  • 納米操縱

  • 壓電力顯微鏡 （PFM)

 

-力測量

  • 力－距離（F-D)光譜

  • 力－體積成像

  • 熱噪聲法標(biāo)定彈性系數(shù)

  • 原子力顯微鏡原子力顯微鏡原子力顯微鏡

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