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認(rèn)識(shí)單色波長(zhǎng)色散X射線熒光技術(shù)(MWDXRF)
閱讀：1076 發(fā)布時(shí)間：2017-1-16
認(rèn)識(shí)單色波長(zhǎng)色散X射線熒光技術(shù)(MWDXRF)
單色波長(zhǎng)色散X射線熒光技術(shù)(MWDXRF)的原理：用全聚焦型雙曲面彎晶將微焦斑X線管(可看作點(diǎn)光源)發(fā)射的原級(jí)X射線的某個(gè)波長(zhǎng)(通常選取出射譜中的特征X射線)的X射線單色化并聚焦于樣品測(cè)試表面，激發(fā)樣品中元素的熒光X射線。由于入射到樣品的X射線具有很好的單色性，幾乎不存在連續(xù)譜，因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(線光譜)和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外，幾乎不存在連續(xù)散射背景。因此待測(cè)元素特征線具有極低的背景。
樣品上出射的X射線(可視作點(diǎn)光源)中待測(cè)元素的特征熒光X譜線經(jīng)全聚焦型雙曲面彎晶衍射，得到具有極低背景的特征X射線，并聚焦到探測(cè)器上進(jìn)行探測(cè)，由特征X射線強(qiáng)度進(jìn)行元素含量的定量分析。
單色波長(zhǎng)色散X射線熒光技術(shù)(MWDXRF)的優(yōu)點(diǎn)：由于采用單波長(zhǎng)激發(fā)并按波長(zhǎng)色散原理進(jìn)行待測(cè)元素的特征熒光X射線檢測(cè)，極低的背景帶來極低的檢出限，將X射線熒光光譜分析的領(lǐng)域由微量(ppm級(jí))延伸到痕量(亞ppm到ppb級(jí))。結(jié)合X射線熒光光譜分析的快速、無損的優(yōu)點(diǎn)，單波長(zhǎng)激發(fā)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀在諸如食品安全、水質(zhì)監(jiān)測(cè)等常規(guī)XRF無法涉足的領(lǐng)域必將得到廣泛的應(yīng)用。
