DumaDuma Optronics  公司于1989年成立于以色列，是一家專業(yè)從事激光光束自動(dòng)化測量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司。其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類型豐富，功能全面。Duma 光束質(zhì)量分析儀提供了兩種技術(shù)的光束質(zhì)量分析儀：CCD式（BeamOn系列）和刀口式（Beam  Analyzer系列）。

Duma 光束質(zhì)量分析儀詳細(xì)說明：  

高分辨率：

高分辨率激光光束質(zhì)量分析儀（1.4M像素）帶有電動(dòng)光學(xué)濾波輪組（軟件或者ActiveX控制）。具有12位的動(dòng)態(tài)范圍，能對連續(xù)光和脈沖光的形狀，位置，功率等光束特性進(jìn)行方位測量。USB2.0接口，Duma可提供一系列的測量配件，集成的電動(dòng)濾波輪和三片衰減片，通過濾波輪軟件自動(dòng)調(diào)節(jié)，可測量從nW到1W不同強(qiáng)度的激光。

技術(shù)：

Duma的CCD光束質(zhì)量分析儀是一種既可以測量連續(xù)光也可以測量脈沖光的光束質(zhì)量診斷設(shè)備。具備光束寬度，光束形狀，位置，功率，強(qiáng)度分布等多種參數(shù)測試能力。使用USB2.0數(shù)據(jù)且可以用軟件控制。通多控制衰減片的倍數(shù)多次測量，可以突破動(dòng)態(tài)范圍的限制來精確測量大的動(dòng)態(tài)范圍的激光束。這種技術(shù)可以測量相對于強(qiáng)點(diǎn)1%的功率動(dòng)態(tài)范圍分布，這種技術(shù)可測量功率密度強(qiáng)點(diǎn)到弱點(diǎn)。

亞微米：

亞微米級別光束質(zhì)量分析儀為亞微米級別光斑提供了光束分析和圖形處理功能。主要應(yīng)用于CD唱頭，激光二極管，唱頭透鏡和光學(xué)元件調(diào)整，小直徑光束，以及任何需要光束測量的系統(tǒng)。

刀口式光束質(zhì)量分析儀

技術(shù)在不同的交叉角和不同的交叉面對光束空間強(qiáng)度進(jìn)行斷層重建從而測量光束質(zhì)量。提供了高分辨率光束直徑和剖面測量，并能夠顯示光束功率分布的二維和三維視圖。

優(yōu)點(diǎn)：

高動(dòng)態(tài)范圍，高分辨率

實(shí)時(shí)測量能有效控制光束質(zhì)量

紫外，可見，近紅外寬光譜測量

功能

無像差掃描式光學(xué)衰減器可測量高功率大動(dòng)態(tài)范圍光束

工業(yè)解決方案—尺寸小

12位A/D轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)高分辨率采樣

數(shù)據(jù)通過RS232或者TCP/IP與轉(zhuǎn)換器連接。

產(chǎn)品系列包含：

光斑分析儀，光束質(zhì)量分析儀型號：

BeamOn WSR UV-NIR (190-1600nm)

BeamOn WSR

BeamOn HR

BeamOn

BeamOn U3

BeamOn 2/3

BeamOn LA

BeamOn Longbow

Beam Analyzer

Beam Analyzer Touch

M2 Beam

uBeam

高功率光斑分析系統(tǒng)型號：

M2 HP - 4 kW

uBeam HP

Beam Analyzer HP

BeamOn HP

位敏探測系統(tǒng)型號：

SpotOn USB 2.0

SpotOn Analog USB

SpotOn Analog

SpotOn LA

SpotOn

SpotOn Compact

SpotOn CCD

LaserOn

激光準(zhǔn)直儀型號：

AlignMeter USB

Electronic Autocollimator

Electronic Autocollimator HR

Laser Analyzing Autocollimator

Laser Analyzing Telescope

AngleMeter LA

AlignMeter LA