SID4-Dwir波前傳感器

基于Phasics的四波橫向剪切干涉技術(shù)，SID4-Dwir涵蓋了中紅外和遠(yuǎn)紅外波段（3-5，8-14µm）。在中波紅外和長波紅外范圍具備高分辨率（160×120個(gè)測量點(diǎn)）。非常適合紅外目標(biāo)與鏡頭測試或紅外激光束測量（CO2，OPO激光…）。

  SID4-Dwir                      光學(xué)器件測量                  自適應(yīng)光學(xué)

特點(diǎn)：

由于其*的技術(shù)技術(shù)，Phasics的SID4-Dwir波前傳感器具備以下特點(diǎn)：

1.高分辨率：160x120測量點(diǎn)

2.雙波長測量：3-5，8-14µm中遠(yuǎn)紅外

3.消色差：可用于黑體輻射測量

4.高數(shù)值孔徑測量：無需外加透鏡

應(yīng)用：

1.光學(xué)測量：SID4-Dwir是表征紅外目標(biāo)的*工具（熱成像和安全視覺），紅外鏡頭（CO2激光）測量可出給MTF，PSF，以及澤尼克像差。消色差功能可在多波長下測試。

2.激光束測量：如CO2激光或紅外OPO激光光源的特性測量，SID4-Dwir提供了一個(gè)全面的光束特性（像差，M²，強(qiáng)度分布，光束參數(shù)…）

SID4-Dwir產(chǎn)品參數(shù)：