WayneKerrElectronics磁導(dǎo)率測(cè)試應(yīng)用方案
1.磁材料樣品制作
對(duì)磁性材料進(jìn)行磁導(dǎo)率測(cè)試通常不會(huì)對(duì)成型不規(guī)則產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,因?yàn)閷?dǎo)致其磁導(dǎo)率測(cè)試結(jié)果的不確定因素過(guò)多(如GAP深度、固定方式等),所以都會(huì)將磁性材料塑形為標(biāo)準(zhǔn)的磁環(huán),以利于進(jìn)行測(cè)試計(jì)算。
2.測(cè)試相對(duì)磁導(dǎo)率方法
相對(duì)磁導(dǎo)率的測(cè)試,可以通過(guò)先測(cè)試空氣線圈的電感和通過(guò)磁環(huán)的繞線交流電阻(不放入磁環(huán)),然后將磁環(huán)放在同一個(gè)繞線線圈中再次測(cè)試電感和通過(guò)磁環(huán)的繞線交流電阻來(lái)實(shí)現(xiàn),可以得出一個(gè)測(cè)試需要通過(guò)兩次獨(dú)立的測(cè)試來(lái)完成。通過(guò)上述的方法,用戶可以先量測(cè)一個(gè)頻率范圍的不帶磁芯的空氣線圈的電感和交流電源,并將其存儲(chǔ)在一個(gè)檔中。這些
測(cè)試結(jié)果將在后續(xù)的測(cè)試帶有磁芯的線圈中來(lái)使用,直至用戶更換了不同的空氣線圈,具體的計(jì)算公式可以參考附錄的計(jì)算公式。
3.磁導(dǎo)率測(cè)試夾具
測(cè)試頻密范圍:20Hz~120MHz -基本測(cè)試精度:0.05%
無(wú)需在磁環(huán)上纏繞漆包線或絲包線
測(cè)試尺寸涵蓋業(yè)內(nèi)最大標(biāo)準(zhǔn)
25(外徑)*15(內(nèi)徑)*10(高度)
取樣放樣方便快捷
被測(cè)物尺寸規(guī)格范圍
項(xiàng)目 | 尺寸范圍 |
外徑 | 5.0mm~30.0mm |
內(nèi)徑 | 4.1mm~29.8mm |
厚度 | 0.01mm~15.0mm |
4.1J1030夾具使用,配合1J1011使用
1、1J1030放置在1J1011上,裝載樣品 2、整套測(cè)試系統(tǒng)
5.1J1030配件一覽表
部件名稱
編號(hào) | 名稱 |
1 | 絕緣測(cè)試底座 |
2 | 測(cè)試腔體 |
3 | 中心電極頂針 |
4 | 測(cè)試產(chǎn)品托盤 |
5 | 上蓋 |
6.WK6500B相對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)試軟件
WayneKerr6500B精密阻抗分析儀,軟件選配有材料測(cè)試軟件(訂購(gòu)代碼/K),這個(gè)軟件只能安裝在精密阻抗分析儀上,不能安裝在6500P的高頻LCR表上。通過(guò)這個(gè)軟件可以更容易的計(jì)算出相對(duì)磁導(dǎo)率的相關(guān)參數(shù),軟件接口如下:
磁導(dǎo)率測(cè)試參數(shù):
u*r 相對(duì)磁導(dǎo)率復(fù)數(shù)值
u'r 相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部
u'r 相對(duì)磁導(dǎo)率虛部
tan□損耗因數(shù)
損耗因數(shù)
磁導(dǎo)率測(cè)試參數(shù):
u*r 相對(duì)磁導(dǎo)率復(fù)數(shù)值
u'r 相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部
u'r 相對(duì)磁導(dǎo)率虛部
tan□損耗因數(shù)
D 損耗因數(shù)
軟件設(shè)置
NumberofturnsN’:繞在磁環(huán)上的圓數(shù),在配合1030使用時(shí)設(shè)置成1
Average magnetic pathlength'磁環(huán)的平均磁路徑長(zhǎng)度
Cross-sectional area oftoroidA:磁環(huán)的截面積
Measure Lw/Rw referencedate:建立空氣線圈參考檔
7.測(cè)試接口
儀表模式 分析模式
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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