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WK65120B-穩(wěn)科阻抗分析儀
  • WK65120B-穩(wěn)科阻抗分析儀
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貨物所在地:江蘇蘇州市

更新時間:2024-06-22 21:00:32

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( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

英國穩(wěn)科阻抗分析儀6500系針對廣泛多樣的用戶及不同的需求,包括被動組件設(shè)計師、電介體、絕緣體材料的研發(fā)測試人員以及生產(chǎn)線上的負責人員,本系列產(chǎn)品提供高頻的阻抗測試(可達120M Hz),應用于對組件特性的分析。高速量測及完整的測試功能,使該系列成為強有力的工具USB接口能直接儲存曲線圖形及量測數(shù)據(jù),大型TFT觸摸顯示屏令該產(chǎn)品更為簡單易用,精細的掃描分辨率(1mHz)使共振頻率的量測快速。

產(chǎn)品特點:

·         簡易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手

·         電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案

·         30 msec超高速測試速度

·         等效Rdc 可高度四線式測試,量測到0.01mohm

·         0.05%基本精度

·         可內(nèi)建1Amp 或 2Amp DC Bias,外加達到40Amp DC Bias

·         可將測試波形儲存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能

·         20Hz~120MHz,七種機型,可隨時升級 ,達升級到120MHz

·         直覺的用戶操作介面,USB、LAN、GPIB及HANDLER

·         可使用滑鼠及鍵盤操控,也可外接印表機及使用USB介面儲存資料

·         具等效電路模擬功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一


測試參數(shù):

電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(G), 電納(B), 電抗(X), 消耗因素(D), 品質(zhì)因素(Q), 阻抗(Z), Y參數(shù)(Y), 相位角(?)

高精度量測:

電容,電感及阻抗基本精度為±0.05%.消耗因素精度為±0.0005及品質(zhì)因素精度為±0.05%.

元件圖形掃描

6500系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率,高精度的量測. 該設(shè)備還是一個包含豐富特性的元件分析儀.
圖形掃描可依據(jù)頻率, 驅(qū)動值及直流偏壓源同時在高清晰,大型彩色顯示幕上顯示任意兩種參數(shù)的圖形.
顯示格式包括 串聯(lián) 或并聯(lián)等同電路和兩極形式.單測某一頻率時可以從圖形掃描轉(zhuǎn)換成標準電表讀值模式.

   
可變的輸出和偏壓源

交流輸出可選高達1伏或20mA,實現(xiàn)在真實操作環(huán)境中來評估元件.可變偏壓直流源可提供達100mA的電流.

外部控制

在品管或制作檔譜的過程中可通過 GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應許多不同的測試環(huán)境.

多選擇的介面

VGA介面可連接到PC顯示器或投影機, 這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學培訓都提供無法衡量的價值. 本機還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡單的接插到系統(tǒng)中, 提供控制和操作儀器的另一種可行方式.

資料儲存和提取

所有的測試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲存.

分類處理介面

Bin Handler 為可選設(shè)制, 通過25相D型接頭提供獨立(24V)和非獨立(5V)的信號.

印表機輸出

測試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機, EPSON相匹配的文字印表機或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.

待測元件連接

可通過面板的BNC接頭來實現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要.

充電電容保護

高精密的測試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護來避免這種情況發(fā)生.

規(guī)格參數(shù):

機型

6505B

6510B

6515B

6520B

6530B

6550B

65120B

頻率

20Hz~5MHz

20Hz~10MHz

20Hz~15MHz

20Hz~20MHz

20Hz~30MHz

20Hz~50MHz

20Hz~120MHz

測試參數(shù)

L(電感)、Q(品質(zhì)因素)、D(消耗因素)、C(電容)、Z(阻抗)、X(電抗)、ACR(交流電阻)、θ(相位角)、Y(導納)、G(電導)、 B(電納)

參數(shù)范圍

Z, R, X:  0.01m > 2GΩ

G, Y, B:  0.01mS ~ >2kS

L:  0.1nH ~ > 2kH

C:  1Ff ~ >1F

D:  0.00001 ~ >1000; Q:  0.00001 ~ >1000

θ:  -180o~+180o

電平

10mV~1Vrms; 200μA~20mA

輸出阻抗

50Ω

直流疊加

內(nèi)置:0~100mV/0 ~ +40V; -40V ~ +40V(選配)

外加:0 ~ +40A(選配)

測試模式

電表模式(測試值顯示)/ 分析模式(掃描曲線)

諧振頻率測試

測試值 / 偏差值

測試值下載 / CSV格式

等效電路分析測試(選配)WK65120B為標配

絕緣材料介電常數(shù)測試和磁性材料磁導率測試

分類挑選(選配) / 多步驟測試(選配) / 震蕩器 / 壓電組件測試(選配)

通信接口

GPIB, LAN, Handler / PASS, FAIL(選配)

內(nèi)存

20

溫濕度

溫度0℃~40℃(操作),-20℃~60℃(儲存),濕度>80%

輸入電壓

使用電源90~264Vac(可自動切換),頻率47~63Hz

標準配件

操作手冊,電源線,1J1011測試夾具或1J1012測試夾具,U盤

選配

/M Multi Measurement Mode(多步測量模式)

/B2 Binning Opto-Coupled(光藕分選)

/L Data Logger Mode(數(shù)據(jù)記錄模式)

/D1 0 ~+40Vdc bias(內(nèi)置)

/E Equivalent Circuit Analysis(等效電路分析)

/D2 -40V ~+40Vdc bias(內(nèi)置)

/B1 Binning(分選)

訂購65120B可附贈選配D1/D2其中之一

1J1012  SMD二線式測試治具

5-654-7010 Transfer Standard Kit-Dip(插件式校準件)

1J1014  SMD四線式測試治具

5-654-7011 Transfer Standard Kit-SMD(SMD標準件)

1EVA40120 SMD鑷子式測試治具


尺寸/凈重量

尺寸(mm)190/H×440/W×525/D    凈重量14.5Kg










參數(shù)配置:

使用電源

90 V AC to 264 V AC

頻率

50/60 Hz

顯示幕

8.4" VGA(640x480)彩色TFT觸屏

印表機輸出

HP-PCL匹配的圖形印表機,
EPSON相匹配的文字印表機,
通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.

遠程控制

GPIB IEEE-488.2 及 SCPI 1992.0

遠程觸發(fā)

Rear panel BNC with internal pull-up, operates on logic low or contact closure

USB介面

兩個USB介面,USB1.0 compliant

VGA介面

15-way D-type connector to drive an external monitor in addition to the internal screen

局域網(wǎng)介面

10/100-BASETX Ethernet controller. RJ45 connector

鍵盤

Standard USB or PS/2 keyboard port. Instrument front panel remains active with keyboard plugged in

滑鼠

Standard USB orPS/2 mouse port. Touch screen remains enabled when the mouse is connected.

Bin Handler (optional)

Isolated (24 V) and non-isolated (5 V). 25-way D-type connector


穩(wěn)科授權(quán)代理商:蘇州裕登電子科技有限公司

我們的優(yōu)勢:WK、是德、泰克、日置、固緯、艾德克斯、安柏、艾諾、長盛、同惠等。

關(guān)于WK:

英國Wayne Kerr成立于1946年,在過去的60多年中,Wayne Kerr為電子量測儀器的,特別是在元件測試方面(LCR Meter、Impedance精密阻抗分析儀、高頻量測儀器領(lǐng)域等)由于具有精密準確度、功能性及優(yōu)良*,受到世界各地客戶的青睞。

主動積極研發(fā)新產(chǎn)品、擴大產(chǎn)品面的運用是 Wayne Kerr 積極為產(chǎn)品提升效益的兩大雙向主軸。為提升客戶直接且快速的原廠技術(shù)服務,Wayne Kerr 持續(xù)不斷的傾聽海內(nèi)外客戶的聲音,以提供客戶有效且快速的測試解決方案為目標,不斷地進行舊產(chǎn)品升級以及新產(chǎn)品的開發(fā),并透過開發(fā)新的軟件,硬件,韌體及相關(guān)搭配的精密測試治具給客戶,以解決客戶面臨的各種測試問題。

盡管世界各地的工程師們對Wayne Kerr或之后其他廠商所生產(chǎn)的這些儀器有不同的稱呼,像電橋(Bridge),LCR Meter跟阻抗分析儀(Impedance Analyzer),這些儀器很多的基本功能仍然可以追溯到Wayne Kerr 1946年*儀器的設(shè)計,而且Wayne Kerr始終不變其對質(zhì)量的堅持,在英國及日本組裝,測試跟校驗,以提供*的量測產(chǎn)品給客戶。

2011年12月Wayne Kerr更進一步并購丹麥的Danbridge公司,該公司為專業(yè)的電容量測之一,此并購的動作亦宣誓了Wayne Kerr決心擴大產(chǎn)品的供應面以滿足絕大部份客戶的測試需求,追求不斷創(chuàng)新的Wayne Kerr將帶給您全然耳目一新的感覺。


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