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造成手持式合金分析儀檢測(cè)出現(xiàn)誤差的原因有哪些？
合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域不可少的快速成份鑒定工具。
影響手持式合金分析儀誤差的情況有哪些?一般有三種情況，比如入射狹縫、衍射光柵、探測(cè)器等，下面小編就為大家介紹一下：
一、探測(cè)器：探測(cè)器是合金分析儀光譜儀的最核心部分，直接決定了合金分析儀光譜儀的光譜覆蓋范圍、靈敏度、分辨率及信噪比等指標(biāo)。一般來(lái)說(shuō)，探測(cè)器的材料決定了其光譜覆蓋范圍，硅基檢測(cè)器其波長(zhǎng)覆蓋范圍一般為190-1100nm，而InGaAs和PbS檢測(cè)器覆蓋900-2900nm的波長(zhǎng)范圍。而探測(cè)器的工作原理、制造方法及摻雜材料決定了其靈敏度、覆蓋范圍和信噪比等指標(biāo)。
二、衍射光柵：衍射光柵將從狹縫入射的光在空間上進(jìn)行色散，使其光強(qiáng)度成為波長(zhǎng)的函數(shù)。它是合金分析儀光譜儀進(jìn)行分光檢測(cè)的基礎(chǔ)，是合金分析儀光譜儀的核心部分。對(duì)于一個(gè)給定的光學(xué)平臺(tái)和陣列式檢測(cè)器，我們可以通過(guò)選擇不同的衍射光柵來(lái)對(duì)光纖光譜儀的光譜覆蓋范圍，光譜分辨率和雜散光水平進(jìn)行額外的控制。
三、入射狹縫：入射狹縫直接影響合金分析儀光譜儀的分辨率和光通量。合金分析儀光譜儀的檢測(cè)器最終檢測(cè)到的是狹縫投射到檢測(cè)器上的像，因此狹縫的大小直接影響到合金分析儀光譜儀的分辨率，狹縫越小，分辨率越高，狹縫越大，分辨率越低;另外狹縫是光進(jìn)入合金分析儀光譜儀的門戶，其大小也直接影響到合金分析儀光譜儀的光通量。狹縫越大，光通量越大，狹縫越小，光通量越小。