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齒厚卡尺綜合誤差檢具說明書

2024-8-2 閱讀(460)

齒厚卡尺綜合誤差檢具

使用說明

一、用途:對齒厚卡尺的綜合誤差進(jìn)行檢定。

二、主要技術(shù)參數(shù)

1、外形尺寸(表1):

測量范圍(mm

圓柱直徑(mm

一個(gè)

第二個(gè)

M116

M216

φ5x40

φ18x50

M536

φ12x50

φ35x50

1

2、測量范圍:(見表1

3、直徑偏差<±0.002毫米

4、表面光潔度不低于10

三、檢定方法:

1、根據(jù)表1選定相應(yīng)的尺寸進(jìn)行檢測。

2、弦長S及相應(yīng)弦高h按下式計(jì)算:

S=d*Soca0

 ……2

S值和h值均應(yīng)取至小數(shù)點(diǎn)后第二位)式中:S—弦長(毫米),h—弦高(毫米),d—圓柱直徑(毫米),a0基本齒形角(度)。

為了讀數(shù)方便,可將h值的小數(shù)點(diǎn)后第二位變?yōu)榕紨?shù),然后按新的h值帶入下式求出S值:

 ……3

3、檢定時(shí),先將弦高按預(yù)先計(jì)算好的h值定好,然后測量弦長S,實(shí)測S值與理論S值之差即為綜合誤差。

圓柱直徑(毫米)

d

弦高(毫米)

h

理論S

S

φ5

1.645

4.699

φ12

3.948

11.276

φ18

5.922

16.915

φ35

11.515

32.890

注:本表為基本齒形角時(shí)hS的相應(yīng)理論值。





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