DCD-100型電容充放電測(cè)試系統(tǒng)

DCD-100型電容充放電測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：儲(chǔ)能，電介質(zhì)，充放電

DCD-100型電容充放電測(cè)試系統(tǒng)目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過(guò)電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度，無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100電容充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過(guò)阻尼充放電測(cè)試。是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備，是目前高等院校和科研院所的設(shè)備。

一、產(chǎn)品特點(diǎn)：    

1、內(nèi)置直流高壓模塊，最大電壓：10kV，20KV 多種可選，電流：0-5mA；

2、通過(guò)電流探頭監(jiān)測(cè)放電電流，最高可達(dá)100A-200A；

3、可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過(guò)阻尼兩種測(cè)試模式，欠阻尼測(cè)試時(shí)，放電回路短路，不使用電阻負(fù)載，過(guò)阻尼測(cè)試時(shí)，使用較大的高精度無(wú)感電阻作為放電負(fù)載；

4、通過(guò)示波器采集數(shù)據(jù)，并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度；

9、專業(yè)的載樣平臺(tái)，適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試；

10、可以變溫測(cè)試，0-250℃；

11、可以疲勞測(cè)試，飽和極化，剩余極化等功能

12、本系統(tǒng)采用特殊高壓開(kāi)關(guān)，通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程，開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短；

二、主要參數(shù)

1、電流探頭帶寬：120MHz

2、峰值電流：0-100A，150 A(多種電流可監(jiān)測(cè)）

3、電流采集精度：1mA

4、高壓源模塊：3KV，5KV， 10kV，15KV多可選（電流：0-5mA）

5、開(kāi)關(guān)適用：100萬(wàn)次，最高耐壓15kV。

6、溫控范圍：0-250℃。

7、溫度穩(wěn)定性和精度：0.1℃

8、探頭：鈹銅鍍金

9、示波器參數(shù)帶寬≤350M

10、采樣率≤5GSa/s

11、測(cè)試樣品：薄膜，厚膜，陶瓷，玻璃等

12、可以疲勞測(cè)試，飽和極化，剩余極化等多種參數(shù)測(cè)試

13、可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試

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