BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺

簡要描述:可配合光譜儀使用，體積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體材料

制冷方式：半導體

溫度范圍：-10°C到120°C

溫度分辨率：0.1°C

控溫精度：±0.1°C

最大加熱速率：20°C/min

最大冷卻速率：-20°C/min

樣品臺大小：34*34mm

通光孔直徑：Φ6mm

外觀尺寸：85*92*17mm

腔體凈重：0.2kg

備 注：5°C下結露，0°C下結霜

配套：A2105(標準載玻片)

簡要描述:可配合光譜儀使用，體積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體材料

制冷方式：半導體

溫度范圍：-10°C到120°C

溫度分辨率：0.1°C

控溫精度：±0.1°C

最大加熱速率：20°C/min

最大冷卻速率：-20°C/min

樣品臺大?。?span style="font-family: Calibri;">34*34mm

通光孔直徑：Φ6mm

外觀尺寸：85*92*17mm

腔體凈重：0.2kg

備 注：5°C下結露，0°C下結霜

配套：A2105(標準載玻片)