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目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料樣品高低溫冷熱臺>>冷熱臺>> 中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺成功交付

中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺成功交付
  • 中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺成功交付
  • 中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺成功交付
參考價(jià) 105000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
105000
≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 Microtrac/拜爾
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

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>

更新時(shí)間:2025-04-22 09:49:00瀏覽次數(shù):400評價(jià)

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中科院上海微系統(tǒng)所定制JKZC-LRT400冷熱臺成功交付


中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所是我國著名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一,前身是成立于1928年的國立中央研究院工程研究所。自建國以來,上海微系統(tǒng)所已獲得獎勵46項(xiàng)、部委省級獎勵340余項(xiàng)。為國民經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國家安全和社會進(jìn)步做出了重大貢獻(xiàn)。

本次交付的產(chǎn)品為探針冷熱臺JKZC-LRT400,該冷熱臺在實(shí)驗(yàn)中主要用于高阻材料在不同溫度

中科院上海微系統(tǒng)所定制JKZC-LRT400冷熱臺成功交付

中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所是我國著名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一,前身是成立于1928年的國立中央研究院工程研究所。自建國以來,上海微系統(tǒng)所已獲得獎勵46項(xiàng)、部委省級獎勵340余項(xiàng)。為國民經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國家安全和社會進(jìn)步做出了重大貢獻(xiàn)。

本次交付的產(chǎn)品為探針冷熱臺JKZC-LRT400,該冷熱臺在實(shí)驗(yàn)中主要用于高阻材料在不同溫度變化下的電學(xué)測試。

中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺成功交付

   現(xiàn)場交付圖


能提供從-190℃到600℃溫度范圍內(nèi)的精準(zhǔn)控制。

中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺成功交付

   現(xiàn)場實(shí)驗(yàn)測試變溫電阻測試數(shù)據(jù)(二)

測試樣品為高阻材料,實(shí)驗(yàn)顯示隨溫度升高,材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中,針對客戶需求,對配套軟件進(jìn)行了定制。


中科院上微所JKZC-LRT400冷熱臺成功交付

包含兩種測試模式:

①RT測試:樣品電阻隨溫度變化;

②數(shù)據(jù)時(shí)間譜測試:到達(dá)設(shè)定溫度后,樣品電阻隨時(shí)間變化。

一|、冷熱臺主要技術(shù)參數(shù):

溫度范圍-196到600°C(-196℃需選擇專用冷卻系統(tǒng))

可達(dá)150°C/min加熱速率

多段溫度控制程序設(shè)定

在線溫度/時(shí)間曲線

全程溫度穩(wěn)定性和精度0.1°C

16 mm X、Y方向移動距離

樣品區(qū)域φ22 mm

光孔直徑 2.0mm                

氣密樣品室,可以控制樣品環(huán)境   

超薄上蓋窗口 0.17 mm

可用于透射和反射光

內(nèi)蓋可以增加溫度穩(wěn)定性

樣品側(cè)面導(dǎo)入

物鏡最小工作距離4.5 mm

聚光鏡最小工作距離12.5 mm

計(jì)算機(jī)控制

冷卻劑直接冷卻加熱體

臺體尺寸- 160 x 80 x 24 mm

二、電阻主要技術(shù)參數(shù):

 

  • 電流分辨率達(dá)0.1fA(10-16A)

  • 測量電阻高達(dá)10PΩ(1016Ω)

  • 輸入阻抗>200TΩ

  • 支持電壓測量達(dá)20V

  • 獨(dú)立的電流和電壓測量

  • 5.0寸電容式觸摸屏

  • 6?位測量分辨率

  • 內(nèi)置電壓源:±1000V,分辨率:700μV

  • 溫度和濕度測量

  • 時(shí)域視圖,捕獲瞬態(tài)信號效應(yīng)和選擇測量數(shù)據(jù)

  • 支持?jǐn)?shù)據(jù)記錄

  • 配置專用屏蔽測試盒

  • 接口:USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、RS232、HANDLER、INTERLOCK



 主要測量應(yīng)用


變溫條件下針對

  • 應(yīng)用


    • 材料特征測試

      半導(dǎo)體、納米材料、聚合物材料、介質(zhì)材料、電化學(xué)材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機(jī)材料等

    • 電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試

      電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽能電池、開關(guān)、繼電器等

    • 電子/非電子系統(tǒng)

      離子束、電子束、傳感系統(tǒng)、粒子測量、嵌入式精密儀器等

    • 半導(dǎo)體和其它器件I-V特性測量

    • 體電阻/表面電阻率測量




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