使用光譜分析儀,可準(zhǔn)確的化學(xué)分析可為加強(qiáng)采礦作業(yè)提供重要數(shù)據(jù),例如改善礦區(qū)的開采,優(yōu)化開采材料的配礦。
然而,將樣品發(fā)送到遠(yuǎn)方的實(shí)驗(yàn)室可能會(huì)造成幾個(gè)小時(shí)到幾天的延遲。此外,人工采集的樣品可能無法代表散裝材料。將采樣過程自動(dòng)化,并將實(shí)驗(yàn)室搬到礦區(qū),可大幅提高生產(chǎn)力。采用在傳送帶上自動(dòng)采樣的解決方案可以實(shí)現(xiàn)這個(gè)目標(biāo)。
傳送帶上自動(dòng)采樣和分析的簡介
在傳送帶上自動(dòng)采樣的解決方案可對散裝開采材料進(jìn)行即時(shí)化學(xué)分析,例如含煤、鋁(Al)、鈦(Ti)、鐵(Fe)、錳(Mn)、鎳(Ni)和銅(Cu) 等元素的礦石。我們的帶上采樣解決方案集成了強(qiáng)大的Vanta在線XRF光譜分析儀,可進(jìn)行快速、自動(dòng)、準(zhǔn)確的分析:
對傳送帶上的采礦給料進(jìn)行實(shí)時(shí)化學(xué)分析
具有探測微量元素的出色靈敏度
一次測量可量化多達(dá)30種元素
可以探測到含量低至1 ppm的關(guān)鍵元素
可分析輕元素,包括鎂(Mg)、鋁(Al)、硅(Si)和硫(S)
自動(dòng)化帶上分析的三步流程
以下列出了這個(gè)流程的三個(gè)簡單步驟,以幫助您了解自動(dòng)化帶上分析的工作原理:
采集樣品
使用跨帶采樣器自動(dòng)從傳送帶上采集樣品,而無需停止或減緩傳送帶。該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)可以滿足相關(guān)的采樣和制備標(biāo)準(zhǔn),包括ISO 12743、ISO 13909、ASTM E877和ASTM D7430。
制備樣品
將采集的樣品碾碎至所需顆粒尺寸。測量并記錄水分含量,以消除測量偏差。樣品被壓實(shí),并準(zhǔn)備好使用X射線熒光(XRF)技術(shù)進(jìn)行化學(xué)分析。整個(gè)制備過程受到自動(dòng)控制和監(jiān)控。
分析樣品
使用Vanta iX在線XRF光譜分析儀分析制備的樣品。數(shù)據(jù)收集與分析以全自動(dòng)化方式進(jìn)行。分析完成后,結(jié)果可被無縫集成到工廠的工作流程和數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)中。這樣就可以在正確的時(shí)間點(diǎn)將正確的數(shù)據(jù)呈現(xiàn)給需要數(shù)據(jù)的人。
采礦作業(yè)自動(dòng)化帶上分析的主要優(yōu)勢
自動(dòng)化帶上分析為采礦作業(yè)帶來很多好處,包括:
全自動(dòng)操作,可連續(xù)保持高生產(chǎn)力
可以無縫集成到現(xiàn)有工廠中
不使用放射性物質(zhì)(與其他方法不同)
與通過傳送帶測量方式相比,直接對樣品分析產(chǎn)生的結(jié)果質(zhì)量更高
實(shí)時(shí)進(jìn)行具有實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量水平的測量
模塊化設(shè)計(jì),易于維護(hù)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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