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顯微鏡自動(dòng)對(duì)焦:用于設(shè)備設(shè)計(jì)的主動(dòng)式與被動(dòng)式方法

閱讀:135      發(fā)布時(shí)間:2024-11-12
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Evident向基于顯微鏡的成像系統(tǒng)制造商供應(yīng)超多規(guī)格的物鏡以及其他光學(xué)部件,為設(shè)備和儀器設(shè)計(jì)者提供支持。這些組件能幫助工程師們輕松有效地設(shè)計(jì)高質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備。

此類設(shè)計(jì)方案的一個(gè)重要組成部分是主動(dòng)式自動(dòng)對(duì)焦技術(shù)。當(dāng)該技術(shù)與顯微鏡的電動(dòng)Z軸——機(jī)械裝置、照明系統(tǒng)、物鏡和/或數(shù)碼相機(jī)結(jié)合使用時(shí),便可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦。這些裝置使用主動(dòng)式方法對(duì)焦樣本,讓光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)受益良多。


這篇文章將深入探討主動(dòng)式自動(dòng)對(duì)焦方法——了解它是什么,比較它與其他方法的優(yōu)劣,并探究它對(duì)于光學(xué)檢測(cè)設(shè)備設(shè)計(jì)(如半導(dǎo)體檢測(cè))的主要優(yōu)勢(shì)。


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顯微鏡的自動(dòng)對(duì)焦方法對(duì)比:主動(dòng)式與被動(dòng)式


一般來(lái)說(shuō),有兩種類型的自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng):


  • 主動(dòng)式系統(tǒng)將來(lái)自專用自動(dòng)對(duì)焦光源的光照射到樣本上,并根據(jù)返回的光進(jìn)行對(duì)焦。該技術(shù)適用于樣本缺乏對(duì)比度的高級(jí)檢測(cè)系統(tǒng),如平板和裸晶圓檢測(cè)系統(tǒng)。主動(dòng)式自動(dòng)對(duì)焦技術(shù)也有不同的類型。瞳孔分離系統(tǒng)允許在不將樣本(移動(dòng)到初始焦點(diǎn)平面上方或下方的情況下檢測(cè)焦點(diǎn)方向,從而使對(duì)焦快速且易于跟蹤。在單點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)中,焦點(diǎn)位于樣本表面的視場(chǎng)中心。
  • 被動(dòng)系統(tǒng)使用觀察到的圖像進(jìn)行對(duì)焦。這種技術(shù)(圖1)通常被稱為圖像對(duì)比法。在被動(dòng)式方法中,難以確定對(duì)焦方向,因此必須在Z方向上下移動(dòng)載物臺(tái)以檢測(cè)樣本對(duì)比度的增加或減少。這會(huì)減慢對(duì)焦速度,并使人難以掌握對(duì)焦情況。然而,這種方法的優(yōu)點(diǎn)是價(jià)格相對(duì)便宜。

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圖1. 被動(dòng)式自動(dòng)對(duì)焦方法示意圖
使用多點(diǎn)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)主動(dòng)式自動(dòng)對(duì)焦
半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的復(fù)雜化或小型化為顯微鏡檢查時(shí)的自動(dòng)對(duì)焦帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)。布線圖案更精細(xì),階梯結(jié)構(gòu)更復(fù)雜。
這些自動(dòng)對(duì)焦的挑戰(zhàn)(圖2)包括:


  • 當(dāng)樣本稍微側(cè)移時(shí),焦點(diǎn)位置在階梯頂部和底部之間的不穩(wěn)定移動(dòng)。
  • 由于階梯邊緣的自動(dòng)對(duì)焦光的散射,導(dǎo)致對(duì)焦誤差信號(hào)的信噪比 (SNR) 變差。


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圖2. 半導(dǎo)體樣本聚焦不穩(wěn)定的原因:(左)焦點(diǎn)位置的變化和(右)階梯邊緣的散射

為了解決這些問(wèn)題,我們開(kāi)發(fā)了一種使用多個(gè)焦點(diǎn)檢測(cè)點(diǎn)的主動(dòng)式自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)(圖3,右)。我們還增添了一個(gè)功能,通過(guò)移動(dòng)自動(dòng)對(duì)焦光學(xué)系統(tǒng)的中繼鏡的光軸,將焦點(diǎn)位置偏移到所需的觀察位置。這就消除了焦點(diǎn)不穩(wěn)定的問(wèn)題(圖4和圖5)。

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圖3. 樣本表面對(duì)焦檢測(cè)點(diǎn)對(duì)比:(左)單點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),(右)多點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)


這種自動(dòng)對(duì)焦技術(shù)可以作為一個(gè)組件提供,以集成到更大的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備中。它主要用于半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備。


圖片圖4. 焦點(diǎn)位置偏移功能

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(a) 在單點(diǎn)系統(tǒng)中,將樣本移到一側(cè)會(huì)移動(dòng)焦點(diǎn)位置

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(b) 在多點(diǎn)系統(tǒng)中,將同一樣本移到一側(cè)不會(huì)改變焦點(diǎn)位置


圖5. 階梯狀樣本橫向錯(cuò)位與焦點(diǎn)穩(wěn)定性比較(亮點(diǎn)表示焦點(diǎn)內(nèi)的檢測(cè)點(diǎn))


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