您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)

| 注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

4008751717分機(jī)806

business

首頁   >>   供求商機(jī)

鏡片反射率測定儀USPMⅢ
  • 鏡片反射率測定儀USPMⅢ
舉報(bào)

貨物所在地:北京北京市

更新時(shí)間:2024-06-26 21:00:05

瀏覽次數(shù):757

在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品

( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!)

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀
●概要
鏡片反射率測定儀USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發(fā)出的換代產(chǎn)品,是鏡片反射率測定儀的新機(jī)型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實(shí)現(xiàn)高速、高精度的分光測定。
●主要用途
·各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等)
·反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)

USPM-RU鏡片反射率測定儀
                        
 
 

概要
USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發(fā)出的換代產(chǎn)品,是鏡片反射率測定儀的新機(jī)型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實(shí)現(xiàn)高速、高精度的分光測定。
特征
消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。
可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對物鏡對焦于被測面的微小區(qū)域(φ60μm),可測定鏡片曲面及鍍膜層脫落。
測定時(shí)間短 
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。
XY色度圖L*a*b*測定可能
以分光測定法為基準(zhǔn),從分光反射率情況可測定物體顏色。
Hard Coat(高強(qiáng)度鍍膜)膜厚測定可能
用干涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。
主要用途
·各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等)
·反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)
與原產(chǎn)品的主要區(qū)別
·采用全新的USPM-RUⅢ框架及設(shè)計(jì),提高了操作性能。
·受臺Z方向的移動范圍從35mm(原產(chǎn)品)擴(kuò)大到了85mm。
·電源規(guī)格可對應(yīng)AC100V以及AC220V。
(請您在下訂單時(shí)注明電源規(guī)格。)
·優(yōu)化了軟件的功能。(可顯示10次測定的功能等)
·XY受臺移動方向增加了比例尺。
·更換鹵燈時(shí)不需調(diào)整燈的位置。
·PC與Interface采用了USB式連接。
●USPM-RUⅢ測定畫面圖例
 

  
  
主要規(guī)格

測定波長380nm~780nm
測定方法與參照試料的比較測定
被測物N.A.0.12(使用10×對物鏡時(shí))
0.24(使用20×對物鏡時(shí))
※與對物鏡的N.A不同
被測物W.D.10.1mm(使用10×對物鏡時(shí))
3.1mm(使用20×對物鏡時(shí))
被測物的曲率半徑-1R~-∞、+1R~∞
被測物的測定范圍約φ60μm(使用10×對物鏡時(shí))
約φ30μm(使用20×對物鏡時(shí))
被測物再現(xiàn)性±0.1%以下(2σ)(380nm~410nm測定時(shí))
±0.01%以下(2σ)(410nm~700nm測定時(shí))
表示精度1nm
測定時(shí)間數(shù)秒~十?dāng)?shù)秒(因取樣時(shí)間各異)
光源規(guī)格鹵燈 12V100W
裝置重量本體:約20kg(電腦、打印機(jī)除外)
光源用電源:約3kg、控制器:約8kg
裝置尺寸本體:300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用電源:150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒:220(W)×250(D)×140(H)mm
電源規(guī)格光源用電源:100V (2.8A)/220V AC
控制器盒:100V(0.2A)/220V AC
使用環(huán)境水平且無振動的場所
溫度:23±5℃
濕度:60%以下、無結(jié)露
軟件■測定參數(shù)設(shè)定
·保存環(huán)境文檔、可讀取
  • 分光反射率測定
·設(shè)定參考值(固定值、分散式、可選擇文檔數(shù)據(jù))
·取樣時(shí)間設(shè)定
·判定是否合格
·波長方向刻度
■物體顏色測定
·XY色度圖、L*a*b*色度圖
·標(biāo)準(zhǔn)光源設(shè)定(A、B、C、D65)
·視野設(shè)定(2°視野、10°視野)
■膜厚(單層膜)測定
·鍍膜材料折射率
*作為特別訂貨,可對應(yīng)測定波長為440nm~840nm。

 

·本裝置不保證為Traceability體系中的精度。
·如規(guī)格及外觀發(fā)生變更恕不另行通知,敬請諒解。

                               
     
                  光學(xué)系光路圖   
                              


  
                    背面反射光消除的原理

會員登錄

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
在線留言

會員登錄

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用: