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上海遠梓電子科技有限公司

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導絲抗彎曲破壞試驗步驟

閱讀:904      發(fā)布時間:2022-4-27
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導絲抗彎曲破壞試驗步驟:

1.       選擇導絲頭端部分作為試驗段,試驗段包括離芯絲端部約5 mm的芯絲部分。

2.       將導絲頭端的這部分彎曲繞在試驗裝置的一個圓柱體上,并沿相反方向繞在第二個圓柱體上.

3.       將導絲從圓柱體上取下,使其仲直,重復彎曲與伸直步驟,20個循環(huán)。檢查由彎曲過程產生的缺陷和損壞。另外檢查涂層導絲涂層的剝落痕跡。

4.       中間段導絲試驗

5.       選擇導絲上不包括尾端或頭端的部分,進行所述試驗步驟。


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