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便攜式涂鍍層(覆層)測(cè)厚無損檢測(cè)方法有：磁性法，渦流法，β射線背散射，微電阻法，XRF-x射線法，重量法，機(jī)械量具法。等
便攜式涂鍍層(覆層)測(cè)厚破壞式檢測(cè)方法包括：庫倫法，金相顯微鏡法，溶解法，點(diǎn)滴法，液流法，和輪廓儀法，干涉顯微鏡法等
下面就幾種常用的方法進(jìn)行簡(jiǎn)單的介紹：
磁感應(yīng)法原理：
※低頻交流勵(lì)磁電流產(chǎn)生低頻磁場(chǎng)，磁通量密度由測(cè)量探頭和鐵磁性基材之間的距離決定。
※通過采集線圈產(chǎn)生探頭輸出信號(hào)，經(jīng)儀器根據(jù)探頭特征以及匹配的數(shù)學(xué)變換模型轉(zhuǎn)化為涂鍍層厚度。當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。
用于測(cè)量：
?鐵磁性基材上的非磁性涂鍍層厚度，如鋼上鋅、鉻、銅、錫、或涂層、塑料、瓷釉
?奧氏體焊接金屬或雙聯(lián)不銹鋼中的δ鐵素體含量
型號(hào)舉例:
德國菲希爾DeltaScope FMP10/30,QNix4200 (含QNix4200、QNix4200/5、QNix4200P、 QNix4200P5 )等
無損－磁性法－霍爾效應(yīng)法
霍爾效應(yīng)法原理：
※永磁體產(chǎn)生恒定的磁場(chǎng)。場(chǎng)強(qiáng)由待測(cè)的鎳層厚度決定。當(dāng)測(cè)量鋼上的非鐵涂鍍層時(shí)，場(chǎng)強(qiáng)將正比于探頭末端與鋼基材的距離。
※通過霍爾效應(yīng)傳感器測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度，進(jìn)而運(yùn)算出該涂鍍層的厚度。
用于測(cè)量：
?堆積于非導(dǎo)電性或非鐵基材上的鍍鎳層厚度
?鋼上的非鐵金屬鍍層，如銅、鋁、或鉛皮（優(yōu)勢(shì)：當(dāng)測(cè)量厚的非鐵鍍層時(shí)，無渦流誤差。）
型號(hào)舉例：德國epk MiniTest FH7200/FH7400，香港嘉儀CanNeed-MBT-300，Hallmag-220，日本奧林巴斯Magna-Mike 8600等
無損－振幅敏感渦流法
振幅敏感渦流法原理：
※高頻磁場(chǎng)在導(dǎo)電性基材中感生渦流。該渦流的振幅大小由探頭線圈與基材的距離決定。
※基材中產(chǎn)生的渦流會(huì)引起探頭線圈中的反射阻抗變化，由此而得測(cè)量信號(hào)。
用于測(cè)量：
?有色金屬上的電絕緣性覆層，如鋁、黃銅、或鋅上的油漆、粉末覆層，塑料。以及鋁的陽極氧化層厚度。
良好導(dǎo)電性有色金屬（如鉻）上的導(dǎo)電性較低的有色金屬鍍層，或銅、鋁、黃銅中非電解鎳鍍層（化學(xué)鍍鎳層）
型號(hào)舉例：IsoScope FMP10,IsoScope FMP30等
改進(jìn)的渦流法－渦流相位法
渦流相位法原理：
※勵(lì)磁電流產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)，該磁場(chǎng)在材料（鍍層或基材）中感生渦流。
※應(yīng)用鍍層材料和底層材料中渦流的形態(tài)不同進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量。
※利用對(duì)材料電導(dǎo)率的函數(shù)關(guān)系，可以測(cè)量導(dǎo)電性。
※勵(lì)磁電流與測(cè)量信號(hào)之間的相位改變量 φ 轉(zhuǎn)變成鍍層厚度值，或各自的電導(dǎo)率值。
※在由探頭決定的一定范圍內(nèi)，讀數(shù)與探頭和鍍層表面的距離無關(guān)－非接觸測(cè)量。
型號(hào)舉例：菲希爾RPHASCOPE PMP10 和PHASCOPE PMP10 DUPLEX
微電阻法原理：
※探頭用4個(gè)電極接觸試樣表面。
※外側(cè)兩個(gè)電極給鍍層一個(gè)電流，把兩個(gè)內(nèi)側(cè)電極之間的銅鍍層當(dāng)作一個(gè)電阻，并且可以測(cè)得該電阻引起的電勢(shì)降低。
※電勢(shì)降低與銅鍍層厚度間接成比例。
※應(yīng)用探頭的特別輸出信號(hào)，如測(cè)量信號(hào)和鍍層厚度的機(jī)能相關(guān)性。
※銅鍍層的電導(dǎo)率受溫度影響，因此需要溫度補(bǔ)償。
用于測(cè)量：
?PCB上面的銅覆層的厚度測(cè)量，且不受下面的銅層影響。
溫度補(bǔ)償：表面溫度可手動(dòng)輸入，或通過連接到溫度模塊上的溫度傳感器測(cè)得
型號(hào)舉例：菲希爾SR-SCOPE RMP30-S，牛津測(cè)厚儀等
無損－X射線熒光測(cè)量
XRF原理：
※X射線管產(chǎn)生初級(jí)射線照射在受檢物質(zhì)時(shí)，會(huì)激發(fā)物質(zhì)放射X射線熒光輻射，特定的元素有特定的輻射；接收器便會(huì)記錄這些能量光譜。
※在受檢物質(zhì)內(nèi)的元素，通過光譜的能量峰值特性便能辨別出來；通過輻射強(qiáng)度的分析，便可鑒定元素的含量。
用于測(cè)量：
?由于可測(cè)量的元素范圍拓展至從鋁到鈾，X射線可應(yīng)用于冶金學(xué)、地質(zhì)學(xué)、鑒證學(xué)或自然科學(xué)等。
型號(hào)舉例：德國菲希爾FISCHERSCOPE XAN 220，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XAN 500等
破壞－庫倫法
庫倫法原理：
※通過受控條件下的電流通路，把金屬鍍層從其金屬或非金屬底材上移除——實(shí)際上可稱為電鍍的逆過程。
※應(yīng)用的電流與逆電鍍的金屬質(zhì)量直接成比例。
※假設(shè)逆電鍍電流和逆電鍍面積保持不變，逆電鍍時(shí)間和鍍層厚度呈確定的相關(guān)性。
應(yīng)用：
?除了XRF之外，唯有庫倫法能夠快速測(cè)量多鍍層系統(tǒng)，如鋼或塑料（ABS）底材上Cr/Ni/Cu鍍層厚度。
?同時(shí)，單和雙鍍層，如鋼上鋅層、銀上鍍鎳再鍍錫，用庫倫法也可毫無問題地測(cè)量。
型號(hào)舉例：couloscope cms2庫侖電解測(cè)厚儀,COULOSCOPE CMS2 STEP,GALVANOTEST2000/3000的等
